[实用新型]一种应用于电子器件的同步充电测试装置有效

专利信息
申请号: 201821142008.1 申请日: 2018-07-18
公开(公告)号: CN208537650U 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 杨必祥 申请(专利权)人: 昆山万盛电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供了一种应用于电子器件的同步充电测试装置,其包括安装架,安装架固定安装于送料线的一侧,安装架的顶部安装有充电测试块,充电测试块上穿设有多个斜向布置的充电测试铜柱,充电测试铜柱的第一端部向送料线的表面方向延伸,第一端部上可拆卸地连接有充电测试探针,充电测试探针的端部延伸至送料线的表面并形成接触端,接触端与产品的引脚接触。本实用新型可以有效地解决了现有技术中测试效率低和故障率高的问题。
搜索关键词: 充电测试 安装架 送料线 本实用新型 第一端部 电子器件 接触端 探针 铜柱 表面方向 测试效率 顶部安装 端部延伸 斜向布置 地连接 故障率 可拆卸 有效地 引脚 应用 延伸
【主权项】:
1.一种应用于电子器件的同步充电测试装置,其特征在于,包括安装架(1),所述安装架(1)固定安装于送料线(2)的一侧,所述安装架(1)的顶部安装有充电测试块(11),所述充电测试块(11)上穿设有多个斜向布置的充电测试铜柱(12),所述充电测试铜柱(12)的第一端部(121)向所述送料线(2)的表面方向延伸,所述第一端部(121)上可拆卸地连接有充电测试探针(13),所述充电测试探针(13)的端部延伸至所述送料线(2)的表面并形成接触端(131),所述接触端(131)与产品(3)的引脚(31)接触。
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