[实用新型]电容阵列结构有效

专利信息
申请号: 201821146818.4 申请日: 2018-07-19
公开(公告)号: CN208589442U 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型提供一种电容阵列结构,包括:于半导体衬底上形成叠层结构;刻蚀叠层结构形成电容孔;刻蚀叠层结构使得叠层结构具有垂直于半导体衬底的平坦外侧壁;形成下电极层、阵列边界层及具有多个开口的第三掩膜层;基于开口去除叠层结构中的牺牲层;形成电容介质层、上电极层及导电填充层,导电填充层具有垂直于半导体衬底平坦的外侧壁;去除电容阵列所在区域外围的导电材料。本实用新型通过阵列边界层的设置,使电容阵列的边缘具有垂直于半导体衬底的平坦表面,提高电容阵列外围绝缘材料层的沉积质量,避免绝缘材料层中出现缝隙,进而避免电容阵列与导电栓塞的短路以及导电栓塞之间的短路,以此提高半导体器件的良率。
搜索关键词: 电容阵列 叠层结构 衬底 半导体 本实用新型 导电填充层 绝缘材料层 导电栓塞 阵列边界 垂直 外侧壁 短路 刻蚀 去除 开口 平坦 外围 半导体器件 电容介质层 导电材料 平坦表面 所在区域 下电极层 电容 电极层 牺牲层 掩膜层 良率 沉积
【主权项】:
1.一种电容阵列结构,其特征在于,所述电容阵列结构至少包括:半导体衬底,所述半导体衬底上形成有电容触点阵列;多个下电极层,分别接合于所述电容触点阵列中的各电容触点上,所述下电极层的截面呈U型;阵列边界层,纵向设置于所述电容阵列结构的边缘,以使得所述电容阵列结构具有平坦外侧壁;电容介质层,形成于所述下电极层的内表面及外表面;上电极层,形成于所述电容介质层的表面;及导电填充层,形成于所述上电极层表面。
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