[实用新型]电容阵列结构有效
申请号: | 201821146818.4 | 申请日: | 2018-07-19 |
公开(公告)号: | CN208589442U | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/08 | 分类号: | H01L27/08 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供一种电容阵列结构,包括:于半导体衬底上形成叠层结构;刻蚀叠层结构形成电容孔;刻蚀叠层结构使得叠层结构具有垂直于半导体衬底的平坦外侧壁;形成下电极层、阵列边界层及具有多个开口的第三掩膜层;基于开口去除叠层结构中的牺牲层;形成电容介质层、上电极层及导电填充层,导电填充层具有垂直于半导体衬底平坦的外侧壁;去除电容阵列所在区域外围的导电材料。本实用新型通过阵列边界层的设置,使电容阵列的边缘具有垂直于半导体衬底的平坦表面,提高电容阵列外围绝缘材料层的沉积质量,避免绝缘材料层中出现缝隙,进而避免电容阵列与导电栓塞的短路以及导电栓塞之间的短路,以此提高半导体器件的良率。 | ||
搜索关键词: | 电容阵列 叠层结构 衬底 半导体 本实用新型 导电填充层 绝缘材料层 导电栓塞 阵列边界 垂直 外侧壁 短路 刻蚀 去除 开口 平坦 外围 半导体器件 电容介质层 导电材料 平坦表面 所在区域 下电极层 电容 电极层 牺牲层 掩膜层 良率 沉积 | ||
【主权项】:
1.一种电容阵列结构,其特征在于,所述电容阵列结构至少包括:半导体衬底,所述半导体衬底上形成有电容触点阵列;多个下电极层,分别接合于所述电容触点阵列中的各电容触点上,所述下电极层的截面呈U型;阵列边界层,纵向设置于所述电容阵列结构的边缘,以使得所述电容阵列结构具有平坦外侧壁;电容介质层,形成于所述下电极层的内表面及外表面;上电极层,形成于所述电容介质层的表面;及导电填充层,形成于所述上电极层表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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