[实用新型]共线自相关超短光脉冲测量装置有效
| 申请号： | 201821219832.2 | 申请日： | 2018-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN208672154U | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 何伟;崔明焕;宋迪迪;秦朝朝 | 申请（专利权）人： | 河南师范大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 北京思创大成知识产权代理有限公司 11614 | 代理人： | 张清芳 |
| 地址： | 453000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种共线自相关超短光脉冲测量装置，其特征在于：入射系统包括飞秒脉冲激光器；迈克尔逊干涉系统包括第一光阑、分束镜、固定臂反射镜、移动臂反射镜，超短光脉冲经过第一光阑入射至分束镜，分束分别传播至固定臂反射镜与移动臂反射镜并反射后，合束为出射双脉冲光；自相关系统包括非线性晶体、二向色镜，出射双脉冲光入射至非线性晶体，通过二向色镜将原始基频双脉冲光场与二次谐波光场分离；检测系统包括光电二极管探测器与CMOS图像探测芯片；数据采集系统采集原始基频双脉冲光场的二维电场共线自相关数据与二次谐波光场的强度数据信息。本实用新型简便高效的实现了对超短飞秒光脉冲的全面性分析与表征。 | ||
| 搜索关键词： | 反射镜 双脉冲 自相关 共线 超短光脉冲测量装置 本实用新型 二次谐波光 非线性晶体 二向色镜 分束镜 固定臂 移动臂 出射 光场 基频 光电二极管探测器 迈克尔逊干涉系统 飞秒脉冲激光器 数据采集系统 超短光脉冲 自相关系统 二维电场 检测系统 强度数据 入射系统 探测芯片 场分离 光脉冲 光入射 全面性 分束 光阑 合束 反射 采集 传播 分析 | ||
【主权项】：
1.一种共线自相关超短光脉冲测量装置，其特征在于，包括入射系统、迈克尔逊干涉系统、自相关系统、检测系统、数据采集系统，其中：所述入射系统包括飞秒脉冲激光器、第一光阑，用于发射超短光脉冲并控制所述超短光脉冲的光斑大小；所述迈克尔逊干涉系统包括分束镜、固定臂反射镜、移动臂反射镜，所述超短光脉冲入射至所述分束镜，通过所述分束镜将所述超短光脉冲分束分别传播至所述固定臂反射镜与所述移动臂反射镜，分别经所述固定臂反射镜与所述移动臂反射镜的反射后，合束为出射双脉冲光从所述分束镜射出；所述自相关系统包括非线性晶体、二向色镜，所述出射双脉冲光入射至所述非线性晶体，产生二次谐波光场，并通过所述二向色镜将原始基频双脉冲光场与所述二次谐波光场分离；所述检测系统包括光电二极管探测器与CMOS图像探测芯片，所述CMOS图像探测芯片检测所述原始基频双脉冲光场的二维电场共线自相关数据，所述光电二极管探测器检测所述二次谐波光场的强度数据；数据采集系统采集所述原始基频双脉冲光场与所述二次谐波光场的数据信息。
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