[实用新型]一种电子芯片质量检测装置有效

专利信息
申请号: 201821345445.3 申请日: 2018-08-21
公开(公告)号: CN208888341U 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 刘海媚 申请(专利权)人: 深圳亚瑟科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市龙岗*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种电子芯片质量检测装置,包括机身与连接线,所述机身的外表面设置有防护外壳,且机身的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板,所述输入面板的前端外表面平行等距设置有多个按键,所述机身的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键,且机身的前端面位于开关键的一侧设置有检测按钮,所述机身的一端通过连接线连接有测试座,所述测试座上端面中间位置处开设有芯片放置槽。本实用新型所述的一种电子芯片质量检测装置,检测步骤简单,且检测结果精准,采用定向翻盖,避免芯片放置槽内的接触端子受损,采用槽孔,便于电子芯片的拿取,采用防护外外壳与防尘内衬的组合使用,实用性较强,带来更好的使用前景。
搜索关键词: 机身 电子芯片 质量检测装置 前端面 连接线 本实用新型 芯片放置槽 输入面板 测试座 开关键 平行等距设置 前端外表面 防护外壳 检测结果 接触端子 翻盖 防尘 拐角处 上端面 按键 检测 按钮 槽孔 拿取 内衬 下角 防护 受损
【主权项】:
1.一种电子芯片质量检测装置,包括机身(1)与连接线(7),其特征在于:所述机身(1)的外表面设置有防护外壳(6),且机身(1)的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板(3),所述输入面板(3)的前端外表面平行等距设置有多个按键(4),所述机身(1)的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键(5),且机身(1)的前端面位于开关键(5)的一侧设置有检测按钮(2),所述机身(1)的一端通过连接线(7)连接有测试座(8),所述测试座(8)上端面中间位置处开设有芯片放置槽(19),且测试座(8)的上端面位于芯片放置槽(19)的四角边沿处均开设有槽孔(17),所述测试座(8)后端面活动安装有翻盖(16),且测试座(8)与翻盖(16)的连接处设置有定向轴(18),所述防护外壳(6)的两外侧位于底端处焊接有防滑底座(14),且防护外壳(6)的两侧靠近防滑底座(14)处均开设有两个螺丝孔(13),所述防护外壳(6)的内表面设置有防尘内衬(15),所述机身(1)的后端面位于右侧处设置有散热扇(12),且机身(1)的后端面位于左上角拐角处设置有电源接口(9),所述机身(1)的后端面位于底端中间位置处设置有数据接口(10)与检测接口(11),所述机身(1)的内部设置有单片机(23),且机身(1)的内部位于单片机(23)的左侧分别设置有键盘输入模块(20)与芯片检测模块(21),所述机身(1)的内部位于单片机(23)的右侧设置有显示模块(24),且机身(1)的内部靠近单片机(23)的下方一侧设置有电源模块(22)。
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