[实用新型]集成电路布图结构有效

专利信息
申请号: 201821363910.6 申请日: 2018-08-23
公开(公告)号: CN208753317U 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 赵奂 申请(专利权)人: 湖南格兰德芯微电子有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/528;H01L23/532;H01L23/373
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 焦天雷
地址: 412000 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型公开了一种集成电路布图结构,包括传导半导体器件和被传导半导体器件,传导半导体器件的至少一层金属层向被传导半导体器件延伸插入或覆盖被传导半导体器件的至少一层金属层,传导半导体器件延伸金属层是传导金属层,被传导半导体器件被插入金属层或被覆盖金属层是被传导金属层,该传导金属层与传导半导体器件其他金属层通过接触孔连接,该传导金属层与被传导半导体器件无接触。本实用新型的布图结构能在满足集成电路布图最小物理规则前提下,使相邻半导体器件满足温度耦合或感应要求。
搜索关键词: 半导体器件 传导 金属层 传导金属层 集成电路布图 本实用新型 相邻半导体器件 覆盖金属层 布图结构 物理规则 接触孔 无接触 耦合 延伸 覆盖
【主权项】:
1.一种集成电路布图结构,包括传导半导体器件和被传导半导体器件,其特征在于:传导半导体器件的至少一层金属层向被传导半导体器件延伸插入或覆盖被传导半导体器件的至少一层金属层,传导半导体器件延伸金属层是传导金属层,被传导半导体器件被插入金属层或被覆盖金属层是被传导金属层,该传导金属层与传导半导体器件其他金属层通过接触孔连接,该传导金属层与被传导半导体器件无接触。
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