[实用新型]集成电路布图结构有效
申请号: | 201821363910.6 | 申请日: | 2018-08-23 |
公开(公告)号: | CN208753317U | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 赵奂 | 申请(专利权)人: | 湖南格兰德芯微电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/528;H01L23/532;H01L23/373 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 焦天雷 |
地址: | 412000 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种集成电路布图结构,包括传导半导体器件和被传导半导体器件,传导半导体器件的至少一层金属层向被传导半导体器件延伸插入或覆盖被传导半导体器件的至少一层金属层,传导半导体器件延伸金属层是传导金属层,被传导半导体器件被插入金属层或被覆盖金属层是被传导金属层,该传导金属层与传导半导体器件其他金属层通过接触孔连接,该传导金属层与被传导半导体器件无接触。本实用新型的布图结构能在满足集成电路布图最小物理规则前提下,使相邻半导体器件满足温度耦合或感应要求。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 传导 金属层 传导金属层 集成电路布图 本实用新型 相邻半导体器件 覆盖金属层 布图结构 物理规则 接触孔 无接触 耦合 延伸 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路布图结构,包括传导半导体器件和被传导半导体器件,其特征在于:传导半导体器件的至少一层金属层向被传导半导体器件延伸插入或覆盖被传导半导体器件的至少一层金属层,传导半导体器件延伸金属层是传导金属层,被传导半导体器件被插入金属层或被覆盖金属层是被传导金属层,该传导金属层与传导半导体器件其他金属层通过接触孔连接,该传导金属层与被传导半导体器件无接触。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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