[实用新型]一种辐射探测器性能测试工装系统有效
| 申请号： | 201821374313.3 | 申请日： | 2018-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN208795847U | 公开（公告）日： | 2019-04-26 |
| 发明（设计）人： | 石磊;侯文斌;张建峰 | 申请（专利权）人： | 无锡华普微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅;陈丽丽 |
| 地址： | 214035 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及辐射探测器技术领域，具体公开了一种辐射探测器性能测试工装系统，其中，所述辐射探测器性能测试工装系统包括：测试台和设置在所述测试台上的控制台，所述测试台包括测试壳体和设置在所述测试壳体上的侧板，所述控制台安装在所述侧板上，所述控制台用于固定待测辐射探测器，所述测试壳体内设置有测试电路，所述控制台与所述测试电路连接，所述测试壳体上设置有功能测试按钮以及测试接口，所述功能测试按钮与所述测试电路连接，所述功能测试按钮能够实现所述测试电路的启动，所述测试电路通过所述测试接口能够实现与待测辐射探测器的连接。本实用新型提供的辐射探测器性能测试工装系统在实现自动测试的同时还能提高辐射探测器的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射探测器 测试电路 性能测试工装 控制台 测试壳体 功能测试 按钮 本实用新型 测试接口 测试台 侧板 测试效率 自动测试 测试 体内 | ||
【主权项】：
1.一种辐射探测器性能测试工装系统，其特征在于，所述辐射探测器性能测试工装系统包括：测试台（100）和设置在所述测试台（100）上的控制台（200），所述测试台（100）包括测试壳体（110）和设置在所述测试壳体（110）上的侧板（120），所述控制台（200）安装在所述侧板（120）上，所述控制台（200）用于固定待测辐射探测器，所述测试壳体（110）内设置有测试电路（130），所述控制台（200）与所述测试电路（130）连接，所述测试壳体（110）上设置有功能测试按钮（140）以及测试接口，所述功能测试按钮（140）与所述测试电路（130）连接，所述功能测试按钮（140）能够实现所述测试电路（130）的启动，所述测试电路（130）通过所述测试接口能够实现与待测辐射探测器的连接。
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