[实用新型]配向膜印刷版面Mark的改进结构有效

专利信息
申请号: 201821383420.2 申请日: 2018-08-27
公开(公告)号: CN208766426U 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 金鑫鑫 申请(专利权)人: 武汉瑞普赛精密技术有限公司
主分类号: G02F1/1337 分类号: G02F1/1337
代理公司: 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 代理人: 朱凌
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭三路*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种配向膜印刷版面Mark的改进结构;在印刷版的对位校准Mark的外围设置一个保护圈,该保护圈环绕在对位校准Mark的外围。由于本实用新型在印刷版面的对位校准Mark的外围设置一个保护圈并形成高低段差,增强了对位校准Mark的耐应力能力,从而避免对位校准Mark在印刷过程中受力而损坏,解决了实际生产过程中易出现对位校准Mark损坏及剥落的现象,使得产品可使用次数提升,在保证印刷精度同时增加了印刷版的使用寿命。
搜索关键词: 校准 对位 保护圈 印刷版 本实用新型 配向膜印刷 改进结构 外围 版面 生产过程 使用寿命 印刷过程 耐应力 剥落 段差 受力 环绕 印刷 保证
【主权项】:
1.一种配向膜印刷版面Mark的改进结构;其特征在于:在印刷版的对位校准Mark的外围设置一个保护圈,该保护圈环绕在对位校准Mark的外围。
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