[实用新型]一种TR组件幅相特性快速微波测试系统

摘要

本实用新型提供一种TR组件幅相特性快速微波测试系统，采用变频器将TR组件的射频信号频率降低到中频，幅度检波和相位检波均在中频完成；包括：TR组件指令控制系统，矩阵开关系统，变频、中频检波以及采样电路，上位机和以太网通信控制系统，上位机控制系统工作以及数据检测和测试报表的生成，以太网通信用于自动化测试系统各个模块间指令和数据的传输。本实用新型通过矩阵开关系统将多个待测的TR组件的射频端口缩减至两个端口与测试电路连接，同时将射频信号变频到中频使测试更加快捷。

主权项

1.一种TR组件幅相特性快速微波测试系统，其特征在于：采用变频器将TR组件的射频信号频率降低到中频，幅度检波和相位检波均在中频完成；包括：(1)TR组件指令控制系统，它的作用是供电、同步脉冲输入以及控制TR工作状态；(2)矩阵开关系统，将多个待测TR组件的射频端口缩减至两个端口与测试电路连接；(3)变频、中频检波以及采样电路，用于完成射频信号的幅度和相位检测；(4)上位机和以太网通信控制系统，上位机控制系统工作以及数据检测和测试报表的生成，以太网通信用于自动化测试系统各个模块间指令和数据的传输；所述的TR组件指令控制系统包括指令控制器，对应一个TR组件的一组指令控制器产生收发开关切换信号T/R、同步发射信号PTT以及多位衰减器控制电平A0～A5和多位移相器控制电平F0～F5；所述的矩阵开关系统实现信号路径的切换，将信号路径建立在测试仪器和测试点之间；所述的矩阵开关系统由至少两个单刀四掷开关SP4T和单刀双掷开关SPDT组合，实现多选一开关组合。