[实用新型]对射激光测高机构有效
| 申请号： | 201821431685.5 | 申请日： | 2018-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN208635730U | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 陆黔彬;贾卫东;方军;王伟东;张万庭 | 申请（专利权）人： | 苏州欣汇电智能装备技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 宁波高新区核心力专利代理事务所(普通合伙) 33273 | 代理人： | 袁丽花 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种对射激光测高机构，所述对射激光测高机构包括基座、滑动安装于基座上的框架、及滑动安装于框架上且相对设置第一测高组件和第二测高组件，所述第一测高组件包括第一激光传感器，第二测高组件包括第二激光传感器，当所述第一激光传感器和第二激光传感器的激光点对中后对位于第一测高组件和第二测高组件之间的待测产品进行高度测量。本实用新型具有检测速度快、检测精度高、电气外部反馈控制、多轴运动、通用性等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测高 激光传感器 测高机构 本实用新型 激光 滑动安装 组件包括 待测产品 多轴运动 反馈控制 高度测量 相对设置 激光点 检测 外部 | ||
【主权项】：
1.一种对射激光测高机构，其特征在于，所述对射激光测高机构包括基座、滑动安装于基座上的框架、及滑动安装于框架上且相对设置第一测高组件和第二测高组件，所述第一测高组件包括第一激光传感器，第二测高组件包括第二激光传感器，当所述第一激光传感器和第二激光传感器的激光点对中后对位于第一测高组件和第二测高组件之间的待测产品进行高度测量。
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