[实用新型]p型栅增强型HEMT器件有效

专利信息
申请号: 201821443359.6 申请日: 2018-09-04
公开(公告)号: CN208819832U 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 张宝顺;徐宁;杜仲凯 申请(专利权)人: 苏州能屋电子科技有限公司
主分类号: H01L21/335 分类号: H01L21/335;H01L29/778;H01L29/06
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋;赵世发
地址: 215000 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种p型栅增强型HEMT器件。所述p型栅增强型HEMT器件包括:包含第一半导体和第二半导体的异质结,在所述异质结中形成有二维电子气;形成于异质结上的p型半导体和高阻半导体;以及源极、漏极和栅极;所述源极、漏极与异质结形成欧姆接触,p型半导体位于栅下区域且与栅极连接,p型半导体用于耗尽栅下区域的二维电子气,高阻半导体位于p型半导体与源极、漏极中任一者之间,且高阻半导体的厚度小于p型半导体的厚度;源极与漏极能够通过二维电子气电连接。本实用新型提供的p型栅增强型HEMT器件不需要二次外延,也不需要对器件的栅下区域进行刻蚀,避免了因刻蚀工艺引入的均匀性、重复性和引入损伤问题。
搜索关键词: 增强型HEMT器件 异质结 漏极 源极 二维电子气 高阻半导体 下区域 本实用新型 半导体 刻蚀工艺 欧姆接触 栅极连接 引入 电连接 均匀性 刻蚀 耗尽 损伤
【主权项】:
1.一种p型栅增强型HEMT器件,其特征在于包括:异质结,包括第一半导体和形成于第一半导体上的第二半导体,所述第二半导体具有宽于第一半导体的带隙,且在所述异质结中形成有二维电子气;形成于所述异质结上的p型半导体和高阻半导体;以及源极、漏极和栅极;所述源极、漏极与异质结形成欧姆接触,所述p型半导体位于栅下区域且与栅极连接,所述p型半导体用于耗尽栅下区域的二维电子气,所述高阻半导体位于p型半导体与源极、漏极中任一者之间,且所述高阻半导体的厚度小于p型半导体的厚度;所述源极与漏极能够通过所述二维电子气电连接。
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