[实用新型]p型栅增强型HEMT器件有效
申请号: | 201821443359.6 | 申请日: | 2018-09-04 |
公开(公告)号: | CN208819832U | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 张宝顺;徐宁;杜仲凯 | 申请(专利权)人: | 苏州能屋电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L29/778;H01L29/06 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋;赵世发 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种p型栅增强型HEMT器件。所述p型栅增强型HEMT器件包括:包含第一半导体和第二半导体的异质结,在所述异质结中形成有二维电子气;形成于异质结上的p型半导体和高阻半导体;以及源极、漏极和栅极;所述源极、漏极与异质结形成欧姆接触,p型半导体位于栅下区域且与栅极连接,p型半导体用于耗尽栅下区域的二维电子气,高阻半导体位于p型半导体与源极、漏极中任一者之间,且高阻半导体的厚度小于p型半导体的厚度;源极与漏极能够通过二维电子气电连接。本实用新型提供的p型栅增强型HEMT器件不需要二次外延,也不需要对器件的栅下区域进行刻蚀,避免了因刻蚀工艺引入的均匀性、重复性和引入损伤问题。 | ||
搜索关键词: | 增强型HEMT器件 异质结 漏极 源极 二维电子气 高阻半导体 下区域 本实用新型 半导体 刻蚀工艺 欧姆接触 栅极连接 引入 电连接 均匀性 刻蚀 耗尽 损伤 | ||
【主权项】:
1.一种p型栅增强型HEMT器件,其特征在于包括:异质结,包括第一半导体和形成于第一半导体上的第二半导体,所述第二半导体具有宽于第一半导体的带隙,且在所述异质结中形成有二维电子气;形成于所述异质结上的p型半导体和高阻半导体;以及源极、漏极和栅极;所述源极、漏极与异质结形成欧姆接触,所述p型半导体位于栅下区域且与栅极连接,所述p型半导体用于耗尽栅下区域的二维电子气,所述高阻半导体位于p型半导体与源极、漏极中任一者之间,且所述高阻半导体的厚度小于p型半导体的厚度;所述源极与漏极能够通过所述二维电子气电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造