[实用新型]一种防漏V-CUT测试结构有效
| 申请号： | 201821450442.6 | 申请日： | 2018-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN209055634U | 公开（公告）日： | 2019-07-02 |
| 发明（设计）人： | 谭镇兴 | 申请（专利权）人： | 清远市富盈电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 广州市科丰知识产权代理事务所(普通合伙) 44467 | 代理人： | 龚元元 |
| 地址： | 511500 广东省清远市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型属于PCB域，具体为一种防漏V‑CUT测试结构，包括设置在PCB折断边上的至少一对防漏V‑CUT测试焊盘，所述的防漏V‑CUT测试焊盘之间通过PAD线连通；所述的PAD线的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的V‑CUT槽的60‑70％的宽度的位置；所述的PAD线与已规划好但是还未锣出的V‑CUT槽的相交点为2个，间距为0.85‑0.95mm。该测试结构为进行V‑CUT槽前的结构，可以保证V‑CUT操作后处于可靠的开路状态。 | ||
| 搜索关键词： | 防漏 测试结构 测试焊盘 本实用新型 开路状态 相交点 折断 连通 嵌入 规划 保证 | ||
【主权项】：
1.一种防漏V‑CUT测试结构，包括设置在PCB折断边上的至少一对防漏V‑CUT测试焊盘，其特征在于，所述的防漏V‑CUT测试焊盘之间通过PAD线连通；所述的PAD线的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的V‑CUT槽的60‑70％的宽度的位置；所述的PAD线与已规划好但是还未锣出的V‑CUT槽的相交点为2个，间距为0.85‑0.95mm。
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