[实用新型]熔断器测试电路及集成电路有效
| 申请号： | 201821462811.3 | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN209117825U | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R31/07 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于熔断器测试电路及集成电路，该熔断器测试电路包括熔断器和闩锁电路，闩锁电路，和所述熔断器连接，所述闩锁电路具有信号接收端，所述信号接收端用于接收触发信号，使得所述闩锁电路中的电流增大，能够将熔断器熔断。在熔断多个熔断器时，只需触发一个熔断器对应的闩锁电路即可接着触发另一个熔断器对应的闩锁电路，避免了相关技术中需要等待一个熔断器熔断接着熔断另一个熔断器，导致的测试时间长，测试效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 熔断器 闩锁电路 熔断 测试电路 信号接收端 触发 集成电路 测试效率 触发信号 电流增大 测试 | ||
【主权项】：
1.一种熔断器测试电路，其特征在于，包括：熔断器；闩锁电路，和所述熔断器连接，所述闩锁电路具有信号接收端，所述信号接收端用于接收触发信号，使得所述闩锁电路中的电流增大。
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