[实用新型]记忆体测试电路和集成电路芯片测试系统有效
| 申请号： | 201821475167.3 | 申请日： | 2018-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN208833882U | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 李垣杰;陆天辰 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种记忆体测试电路和集成电路芯片测试系统，涉及集成电路测试技术领域。该记忆体测试电路包括驱动器、减法器和接收器。具体的，驱动器可以用于响应来自测试机的测试指令经由待测器件的单传输线向待测器件发送第一信号；减法器可以用于接收第一信号以及待测器件响应第一信号而产生并经由单传输线发送的第二信号，将第二信号减去第一信号以得到第三信号并输出；接收器可以用于接收第三信号并将第三信号发送至测试机。本公开可以解决由于单传输线传输信号以及信号传输的延迟而造成驱动器输出的信号干扰接收器接收的信号的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 接收器 测试电路 待测器件 记忆体 集成电路芯片测试 驱动器 单传输线 第二信号 测试机 减法器 发送 单传输线传输 集成电路测试 本实用新型 驱动器输出 测试指令 信号传输 信号发送 信号干扰 响应 减去 延迟 输出 | ||
【主权项】：
1.一种记忆体测试电路，其特征在于，包括：驱动器，用于响应来自测试机的测试指令经由待测器件的单传输线向所述待测器件发送第一信号；减法器，用于接收所述第一信号以及所述待测器件响应所述第一信号而产生并经由所述单传输线发送的第二信号，将所述第二信号减去所述第一信号以得到第三信号并输出；接收器，用于接收所述第三信号并将所述第三信号发送至所述测试机。
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