[实用新型]一种多探针晶元片检测头

摘要

本实用新型涉及自动化检测技术领域，公开了一种多探针晶元片检测头，包括基座、探针座，基座的上端一侧设有连接条，连接条上设有连接孔，基座的底部设有T形槽，探针座的横截面呈T字形，探针座的上端伸入T形槽内形成滑动连接，基座的右侧面设有若干锁止螺栓，探针座内设有若干竖直的探针孔，每个孔内均设有探针，探针座的侧面设有与探针孔垂直连通的螺纹孔，每个螺纹孔内均设有柱头螺栓，探针座的顶面设有凹槽，凹槽内设有接线座，每根探针的上端穿过探针孔与接线座连接，基座的顶面设有与T形槽贯通的避让孔，接线座上连接有排线，排线的外端穿过避让孔并与排线插头连接。本实用新型具有检测效率高、探针更换方便的有益效果。

主权项

1.一种多探针晶元片检测头，其特征是，包括基座、探针座，所述基座的上端一侧设有连接条，所述连接条上设有连接孔，所述基座的底部设有T形槽，所述探针座的横截面呈T字形，所述探针座的上端伸入T形槽内形成滑动连接，所述基座的右侧面设有若干锁止螺栓，所述探针座内设有若干竖直的探针孔，每个孔内均设有探针，所述探针座的侧面设有与探针孔垂直连通的螺纹孔，每个螺纹孔内均设有柱头螺栓，所述探针座的顶面设有凹槽，探针孔的上端均与凹槽的底面贯通，所述的凹槽内设有接线座，每根探针的上端穿过探针孔与接线座连接，所述基座的顶面设有与T形槽贯通的避让孔，所述接线座上连接有排线，所述的排线的外端穿过避让孔并与排线插头连接。