[实用新型]芯片测试系统有效
| 申请号： | 201821631051.4 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN208953666U | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种芯片测试系统，包括：测试设备，包括n条片选信号线、m组第一信号线和m*n组第二信号线；m*n个芯片测试位，每个所述芯片测试位耦接于所述n条片选信号线中的一条和所述m组第一信号线中的一组，且每个所述芯片测试位耦接的片选信号线与第一信号线不完全相同，每个所述芯片测试位对应耦接于所述m*n组第二信号线中的一组。本公开实施例可以用有限的测试设备引脚对多个芯片实现单独控制。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试 耦接 芯片测试系统 测试设备 第二信号 信号线 条片 片选信号线 单独控制 芯片实现 引脚 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：测试设备，包括m组第一信号线和m*n组第二信号线；m*n个芯片测试位，每个所述芯片测试位耦接于所述m组第一信号线中的一组和所述m*n组第二信号线中的一组。
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