[实用新型]芯片内护城河结构有效

专利信息
申请号: 201821711092.4 申请日: 2018-10-22
公开(公告)号: CN208806243U 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 刘星
地址: 230601 安徽省合肥市合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型提供一种芯片内护城河结构,该结构包括基板、扩散阻挡层、介电层、金属互连结构、钝化保护层、护城河凹槽结构及表面保护层,其中,护城河凹槽结构形成于芯片周边区域包括至少两个分立设置的槽环,槽环往下延伸至介电层中但未贯穿所述扩散阻挡层,表面保护层自下而上依次包括共形层及填充层,共形层还形成于槽环的侧壁和底部,填充层还填入槽环。本实用新型在芯片周边区域布置槽环,槽环环绕芯片主体区域,且槽环中填充有共形层及填充层,可以有效吸收或缓冲晶圆切割应力,从而阻断晶圆切割应力往芯片主体区域传递,并减少金属材料的使用,同时增加结构的稳定性。
搜索关键词: 槽环 共形层 填充层 芯片周边区域 本实用新型 表面保护层 扩散阻挡层 凹槽结构 晶圆切割 芯片主体 介电层 芯片 金属互连结构 钝化保护层 金属材料 分立设置 区域传递 有效吸收 槽环中 侧壁 缓冲 基板 填入 填充 环绕 贯穿 延伸
【主权项】:
1.一种芯片内护城河结构,其特征在于,包括:基板,所述基板上定义有芯片主体区域及环绕所述芯片主体区域的芯片周边区域;扩散阻挡层,位于所述基板表面,所述基板内埋设有护城河环结构,位于所述芯片周边区域中且遮盖在所述扩散阻挡层之下;介电层,位于所述扩散阻挡层表面;金属互连结构,位于所述介电层中,所述金属互连结构的导电金属层位于所述芯片主体区域中;钝化保护层,位于所述介电层表面;护城河凹槽结构,形成于所述芯片周边区域并且对准于所述护城河环结构,所述护城河凹槽结构包括至少两个分立设置的槽环,所述槽环往下延伸至所述介电层中,但未贯穿所述扩散阻挡层;表面保护层,位于所述钝化保护层上,所述表面保护层自下而上依次包括共形层及填充层,所述共形层还形成于所述槽环的侧壁和底部,所述填充层还填入所述槽环。
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