[实用新型]光学式瑕疵检测系统有效
申请号: | 201821746043.4 | 申请日: | 2018-10-26 |
公开(公告)号: | CN209363041U | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 陈文生;李彦志;杞美瑜 | 申请(专利权)人: | 联策科技股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B07C5/342;B07C5/36 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 翟国明 |
地址: | 中国台湾桃园*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本实用新型提供一种光学式瑕疵检测系统,包含至少一平台,用以承载多个待检测物;一上料摆放系统,将多个待检测物一次性摆放至该平台;一影像拍摄系统,依序拍摄该等待检测物的多个检测影像;一处理单元,接收该等检测影像,以检测出该等待检测物的检测结果;以及一下料摆放系统,从该平台一次性拾起该等待检测物,以摆放至一下料区;该下料区包含多个区域,该等区域的相邻排列包含该等待检测物的所有检测结果的组合,该处理单元根据该等待检测物的检测结果,以控制该下料摆放系统将拾起的该等待检测物移动对应至多个目标区域,而该等目标区域的相邻排列相应于该等待检测物的检测结果,使该下料摆放系统将该等待检测物一次性摆放至该等目标区域。 | ||
搜索关键词: | 检测物 摆放系统 检测结果 目标区域 一次性 瑕疵检测系统 处理单元 待检测物 相邻排列 光学式 摆放 下料 检测 影像 影像拍摄系统 本实用新型 下料区 料区 上料 承载 拍摄 移动 | ||
【主权项】:
1.一种光学式瑕疵检测系统,包含:至少一平台,用以承载多个待检测物;一上料摆放系统,将多个待检测物一次性摆放至该平台;一影像拍摄系统,依序拍摄该等待检测物的多个检测影像;一处理单元,接收该等检测影像,以检测出该等待检测物的检测结果;以及一下料摆放系统,从该平台一次性拾起该等待检测物,以摆放至一下料区;其特征在于:该下料区包含多个区域,该等区域的相邻排列包含该等待检测物的所有检测结果的组合,该处理单元根据该等待检测物的检测结果,以控制该下料摆放系统将拾起的该等待检测物移动对应至多个目标区域,而该等目标区域的相邻排列相应于该等待检测物的检测结果,使该下料摆放系统将该等待检测物一次性摆放至该等目标区域。
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