[实用新型]一种老化测试板有效
| 申请号： | 201821756791.0 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN209182450U | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 符兴建 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例提供了一种老化测试板，涉及电子设备技术领域。本实用新型通过在老化测试板上设置控制模块以及与控制模块连接的至少一个测试座，在测试座上设置有温度采集模块和温度调节模块，测试座用于放置待测试芯片，温度采集模块采集待测试芯片的温度信号，控制模块通过控制温度调节模块，以对测试座内的待测试芯片进行升温或降温。通过温度采集模块采集待测试芯片的温度信号，控制模块控制温度调节模块对测试座内的待测试芯片进行升温或降温，使得每个待测试芯片的温度都可单独调节，保证所有的待测试芯片都能达到所需的老化测试温度，提高老化测试结果的准确性，且无需将老化测试板放置在老化箱内进行老化测试，节省了空间和成本。 | ||
| 搜索关键词： | 待测试芯片 测试座 老化测试 温度采集模块 温度调节模块 老化测试板 控制模块 温度信号 设置控制模块 采集 本实用新型 单独调节 电子设备 老化 保证 | ||
【主权项】：
1.一种老化测试板，其特征在于，包括：控制模块和至少一个测试座，每个测试座上均设置有温度采集模块和温度调节模块，所述控制模块分别与所述至少一个测试座，以及所述至少一个测试座上的温度采集模块和温度调节模块连接；所述测试座，用于放置待测试芯片；所述温度采集模块，用于采集所述待测试芯片的温度信号；所述控制模块，用于根据所述待测试芯片的温度信号控制所述温度调节模块，以对所述测试座内的待测试芯片进行升温或降温。
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