[实用新型]芯片单独寿命预测模块有效
| 申请号： | 201821778643.9 | 申请日： | 2018-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN209028177U | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 项澹颐 | 申请（专利权）人： | 富士电机(中国)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 俞丹;张鑫 |
| 地址： | 200062 上海市普陀*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种芯片单独寿命预测模块，能够单独地预测芯片的寿命以决定是否更换，其包括：芯片(10)，将该芯片的一部分区域作为检测区域(11)；阻抗检测单元(21)，通过绑定线(60)连接至检测区域(11)，检测出检测区域(11)的阻抗作为芯片(10)的阻抗；以及判断单元(22)，根据阻抗检测单元(21)检测到的芯片(10)的阻抗，来判断芯片(10)的劣化是否超过预先设定的阈值，从而决定是否需要更换。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测区域 阻抗 寿命预测模块 阻抗检测单元 本实用新型 判断单元 绑定线 单独地 检测 劣化 预测 | ||
【主权项】：
1.一种芯片单独寿命预测模块，能够单独地预测芯片的寿命以决定是否更换，其特征在于，包括：芯片，将该芯片的一部分区域作为检测区域；阻抗检测单元，该阻抗检测单元通过绑定线连接至所述检测区域，检测所述检测区域的阻抗作为所述芯片的阻抗；以及判断单元，该判断单元根据所述阻抗检测单元检测到的所述芯片的阻抗，来判断所述芯片的劣化是否超过预先设定的阈值，从而决定是否更换所述芯片单独寿命预测模块。
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