[实用新型]一种光子晶体测量装置有效
| 申请号： | 201821781982.2 | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN208936935U | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 汤敏煊 | 申请（专利权）人： | 汤敏煊 |
| 主分类号： | G01B5/14 | 分类号： | G01B5/14;G01B11/14;G09B23/22 |
| 代理公司： | 江苏斐多律师事务所 32332 | 代理人： | 张佳妮 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光子晶体测量装置，由自上而下的单色激光光源、垂直入射光、二维光子晶体、环形置物台、固定支架、底座组成，其中，单色激光光源、环形置物台分别通过固定支架固定在底座两侧，二维光子晶体水平放置在环形置物台上，单色激光光源竖直发射的垂直入射光与二维光子晶体的平面垂直，最终投射到底座上，二维光子晶体的平面与底座的上表面平行且间距为h。本装置可以通过测量投影在底座上的德拜环直径D来计算出二维光子晶体的晶格间距d，可以作为演示实验或实验教学，采用不同直径的纳米球在载玻片上排列成二维光子晶体，可以得到不同直径的德拜环，加深学生对二维光子晶体的认识及理解。 | ||
| 搜索关键词： | 二维光子晶体 单色激光光源 底座 垂直入射光 测量装置 固定支架 光子晶体 置物台 本实用新型 测量投影 底座两侧 平面垂直 实验教学 演示实验 纳米球 上表面 载玻片 晶格 竖直 投射 置物 平行 发射 加深 学生 | ||
【主权项】：
1.一种光子晶体测量装置，由自上而下的单色激光光源、垂直入射光、二维光子晶体、环形置物台、固定支架、底座组成，其中，单色激光光源、环形置物台分别通过固定支架固定在底座两侧，二维光子晶体水平放置在环形置物台上，单色激光光源竖直发射的垂直入射光与二维光子晶体的平面垂直，最终投射到底座上，二维光子晶体的平面与底座的上表面平行且间距为h。
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