[实用新型]PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置有效
申请号: | 201821791142.4 | 申请日: | 2018-10-31 |
公开(公告)号: | CN209247964U | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 王洋 | 申请(专利权)人: | 广州视源电子科技股份有限公司;广州镭晨智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/067 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 张硕 |
地址: | 510530 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置,所述PCB测试机构,包括测试基座,所述测试基座上有第一检测探针和转接探针,所述第一检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点抵接,所述第一检测探针和转接探针电性连接,所述转接探针用于通过测试压板将第一检测探针获取的检测信息传递给测试系统;测试中,待测试PCB放置于测试基座上,测试压板按压待测试PCB,第一检测探针与待测试PCB上靠近测试基座一侧的触点抵接,转接探针通过测试压板将第一检测探针获取的信息传递给测试系统。转接探针的设置能够在测试压板按压待测试PCB时,通过转接探针与测试压板的配合将第一检测探针检测到的信息传递给测试系统。 | ||
搜索关键词: | 第一检测探针 测试压板 转接探针 测试基座 测试 测试系统 按压 信息传递 触点 抵接 本实用新型 电性连接 检测信息 传递 检测 配合 | ||
【主权项】:
1.一种PCB测试机构,其特征在于,包括测试基座,所述测试基座上有第一检测探针和转接探针,所述第一检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点抵接,所述第一检测探针和所述转接探针电性连接,所述转接探针用于通过测试压板将所述第一检测探针获取的检测信息传递给测试系统。
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