[实用新型]一种集成电路测试的检测平台

摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试的检测平台，包括底板和位于其上方的活动板，所述底板的顶端四角均安装有伸缩柱，伸缩柱的顶端连接有活动板，底板的顶端中间位置转动连接有垂直设置的第一螺纹杆，第一螺纹杆的侧壁底端安装有第一转动手柄，第一螺纹杆上螺纹连接有连接环，连接环的两侧侧壁上均铰接有连接杆，连接杆的顶端铰接在活动板的底端侧壁上，所述活动板的顶端两侧均焊接有垂直设置的侧板，两个侧板之间滑动连接有水平设置的安装板。本实用新型能够对检测平台的高度进行调整，方便适应不同高度的测试人员，能够带动集成电路进行振动，检测集成电路的抗振性能。

主权项

1.一种集成电路测试的检测平台，包括底板（1）和位于其上方的活动板（8），其特征在于，所述底板（1）的顶端四角均安装有伸缩柱（6），伸缩柱（6）的顶端连接有活动板（8），底板（1）的顶端中间位置转动连接有垂直设置的第一螺纹杆（2），第一螺纹杆（2）的侧壁底端安装有第一转动手柄（3），第一螺纹杆（2）上螺纹连接有连接环（4），连接环（4）的两侧侧壁上均铰接有连接杆（5），连接杆（5）的顶端铰接在活动板（8）的底端侧壁上，所述活动板（8）的顶端两侧均焊接有垂直设置的侧板（10），两个侧板（10）之间滑动连接有水平设置的安装板（13），安装板（13）的顶端设有多个固定机构（14），安装板（13）的下方设有位于活动板（8）上的振动机构。