[实用新型]一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备有效
| 申请号： | 201821852562.9 | 申请日： | 2018-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN209400185U | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 尹升高;林少鹏;黄新康;张林博 | 申请（专利权）人： | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 陈卫;练逸夫 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，包括高低温环境箱，在高低温环境箱上设有开口，在开口处设有使高低温环境箱的实验过程保持密封的密封板，在高低温环境箱内设有测试产品和用于夹持固定SD卡或USB的插头的插头夹持机构；插头夹持机构穿过密封板与设置在高低温环境箱外的驱动机构连接，在插头夹持机构和驱动机构之间设有用于反馈插头夹持机构的插入力度的检测机构。本实用新型通过采用硬件和软件相结合的技术方案在高低温环境箱内完成SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试工作，且力度的控制很好地模拟了人工的操作，提高了高低温环境耐久测试的有效性，通过上位机监控和操作测试产品，做到实时监控和精确的操作，保证试验质量。 | ||
| 搜索关键词： | 高低温环境箱 耐久测试 插头夹 高低温环境 高低温 拔插 本实用新型 驱动机构 密封板 上位机监控 操作测试 测试产品 夹持固定 实时监控 实验过程 插头 开口处 人工的 密封 开口 穿过 反馈 试验 保证 | ||
【主权项】：
1.一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，其特征在于，包括高低温环境箱（1），在所述高低温环境箱（1）上设有开口（11），在所述开口（11）处设有使高低温环境箱（1）的实验过程保持密封的密封板（12），在所述高低温环境箱（1）内设有用于固定测试产品（211）的固定架（13）和用于夹持固定所述SD卡或USB的插头（212）的插头夹持机构（21），所述插头夹持机构（21）与所述测试产品（211）上的SD卡接口或USB接口相对应设置；所述插头夹持机构（21）穿过所述密封板（12）与设置在所述高低温环境箱（1）外用于驱动所述插头夹持机构（21）带动所述SD卡或USB的插头（212）完成拔插动作的驱动机构（22）连接，在所述插头夹持机构（21）和驱动机构（22）之间设有用于反馈插头夹持机构（21）的插入力度的检测机构（23）。
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