[实用新型]一种能够进行快速校准的超声波探伤静态校准样棒有效
申请号: | 201821873830.5 | 申请日: | 2018-11-14 |
公开(公告)号: | CN209247703U | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 王会庆;任鹏飞;王康煜 | 申请(专利权)人: | 石家庄钢铁有限责任公司 |
主分类号: | G01N29/30 | 分类号: | G01N29/30 |
代理公司: | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人: | 李桂琴 |
地址: | 050031 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 一种能够进行快速校准的超声波探伤静态校准样棒,属于超声波探伤设备技术领域,用于快速对探伤设备进行静态校准。其技术方案是:在静态校准样棒的棒体表面有一个中心横孔和两个表面纵向刻槽,它们的长度方向与静态校准样棒的中心轴线平行,两个表面纵向刻槽在长度方向上分别位于中心横孔的两端,在圆周方向上分别位于中心横孔的两侧,中心横孔和两个表面纵向刻槽分别与超声波探测设备的纵波探头、横波探头的位置相对,它们的面积分别覆盖超声波探测设备的纵波探头和横波探头。本实用新型结构简单、操作简便、检测快速稳定,不需移动静态校准样棒,即可校准每组探头,并可同时校准每组探头内的各个晶片,实现快速校准,显著提高了检测速度。 | ||
搜索关键词: | 静态校准 探头 校准 样棒 横孔 表面纵向 刻槽 超声波探测设备 超声波探伤 横波 纵波 超声波探伤设备 本实用新型 棒体表面 快速稳定 探伤设备 位置相对 中心轴线 检测 晶片 平行 移动 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种能够进行快速校准的超声波探伤静态校准样棒,其特征在于:在静态校准样棒(1)的棒体表面有三个用于校准的人工缺陷,三个人工缺陷分别是一个中心横孔(2)和两个表面纵向刻槽(3),中心横孔(2)和两个表面纵向刻槽(3)的长度方向与静态校准样棒(1)的中心轴线平行,两个表面纵向刻槽(3)在静态校准样棒(1)的长度方向上分别位于中心横孔(2)的两端,中心横孔(2)和两个表面纵向刻槽(3)分别与超声波探测设备的纵波探头、横波探头的轴向位置相对,两个表面纵向刻槽(3)在静态校准样棒(1)的圆周方向上分别位于中心横孔(2)的两侧,两个表面纵向刻槽(3)分别与超声波探测设备的两个横波探头的圆周位置相对,中心横孔(2)和两个表面纵向刻槽(3)的面积分别覆盖超声波探测设备的纵波探头和横波探头。
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