[实用新型]一种二极管测试系统有效

专利信息
申请号: 201821887491.6 申请日: 2018-11-16
公开(公告)号: CN209124419U 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 陈林;朱灿;柴美荣 申请(专利权)人: 贵州雅光电子科技股份有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 商小川
地址: 550025 贵州省贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 实用新型公开了一种二极管测试系统,包括一次测试通道、中转输送通道和二次测试通道,在一次测试通道的首端设有具有推送杆的第一推送机构,在一次测试通道内还设有一次检测工位和第一检测单元,在一次检测工位处设有一次零件落口,在该一次零件落口内配合设有具有零件挡板的第二推送机构;在二次测试通道的首端设有具有推送杆的第三推送机构,在二次测试通道内还设有二次检测工位和第二检测单元,在二次检测工位处设有二次零件落口,在该二次零件落口内配合设有具有零件挡板的第四推送机构,在二次零件落口下方设有分选通道,以将合格品和不合格品分流收集。与传统的手动测试相比,本实用新型极大的提高了测试效率和准确性,降低了劳动强度。
搜索关键词: 推送机构 测试通道 二次测试 落口 本实用新型 二极管测试 挡板 二次检测 一次检测 工位处 推送杆 工位 首端 合格品 不合格品 测试效率 第二检测 分选通道 手动测试 输送通道 传统的 配合 分流 检测
【主权项】:
1.一种二极管测试系统,包括一次测试通道(2)、中转输送通道(7)和二次测试通道(8),其中,一次测试通道(2)的尾端连接在中转输送通道(7)的上游,二次测试通道(8)的首端垂直连接在中转输送通道(7)的下游,其特征在于:在一次测试通道(2)的首端设有具有推送杆的第一推送机构(3),以将从一次测试通道(2)的进料工位进入的二极管推送至一次测试通道(2)内的一次检测工位,在一次检测工位处设有用于检测二极管性能的第一检测单元,在一次检测工位处的一次测试通道(2)底部设有一次零件落口(21),在该一次零件落口(21)内配合设有具有零件挡板的第二推送机构(6),在第二推送机构(6)的伸缩作用下,零件挡板可在将一次零件落口(21)遮挡和开启间转换;在二次测试通道(8)的首端设有具有推送杆的第三推送机构(9),以将从中转输送通道(7)进入的二极管推送至二次测试通道(8)内的二次检测工位,在二次检测工位处设有用于检测二极管性能的第二检测单元,在二次检测工位下游的二次测试通道(8)底部设有二次零件落口(81),在该二次落口内配合设有具有零件挡板的第四推送机构(12),在第四推送机构(12)的作用下,零件挡板可在将二次零件落口(81)遮挡和开启间转换,在二次零件落口(81)下方设有分选通道(13),以将合格品和不合格品分流收集。
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