[实用新型]一种表面粗糙度测量装置有效
| 申请号： | 201821922495.3 | 申请日： | 2018-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN208887611U | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 徐燕华;沈思情;张俊宝;陈猛 | 申请（专利权）人： | 上海超硅半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201617 上海市松*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种表面粗糙度测量装置，其属于机械加工技术领域，包括测量平台、垫片和粗糙度仪，测量平台的上表面开设有容置槽，待测件位于容置槽内且待测件的至少一侧与容置槽的内壁抵接；垫片位于容置槽内且支撑于待测件的下方，待测件的被测面与测量平台的上表面平齐；粗糙度仪设置于测量平台上，粗糙度仪的工作面与测量平台的上表面平齐。通过容置槽为待测件提供容置空间，且能够对待测件定位，防止待测件移位；通过垫片调整待测件的位置，使得待测件的被测面与测量平台的上表面平齐，进而粗糙度仪的工作面能够与被测面抵接，降低粗糙度仪的磨损程度，提高测量结果的准确性，保证了测试的方便快捷、重复性高。 | ||
| 搜索关键词： | 待测件 容置槽 测量 上表面 被测面 粗糙度 平齐 表面粗糙度测量装置 粗糙度仪 抵接 垫片 机械加工技术 本实用新型 垫片调整 容置空间 移位 内壁 磨损 测试 支撑 保证 | ||
【主权项】：
1.一种表面粗糙度测量装置，其特征在于，包括：测量平台(1)，所述测量平台(1)的上表面开设有容置槽(11)，待测件(10)位于所述容置槽(11)内且所述待测件(10)的至少一侧与所述容置槽(11)的内壁抵接；垫片(2)，位于所述容置槽(11)内且支撑于所述待测件(10)的下方，所述待测件(10)的被测面与所述测量平台(1)的上表面平齐；粗糙度仪(3)，设置于所述测量平台(1)上，所述粗糙度仪(3)的工作面与所述测量平台(1)的上表面平齐。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海超硅半导体有限公司，未经上海超硅半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201821922495.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：建筑平面测量仪
- 下一篇：新型三维应变状态测试装置
