[实用新型]一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置有效
申请号: | 201821971462.8 | 申请日: | 2018-11-26 |
公开(公告)号: | CN209069220U | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 赵建平;吴康彪;冯常;廖礼斌;陈志波;张闰;黄冰峰;蔡根 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种在核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置,属于核工业测量设备领域,测量装置包括辐射屏蔽壳体(1)、测量模块(2)、安装壳体(3)和控制处理系统(4)。测量模块(2)安装在安装壳体(3)上,安装壳体(3)安装在辐射屏蔽壳体(1)上。本实用新型主要用于核辐射的环境下,对待测件表面轮廓进行测量。使用上述核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置实现在核辐射环境下对待测件表面轮廓进行高精度的测量,同时该设备具备一定耐辐射能力,结构紧凑,操作简便,适应性和抗干扰强,可获取不同形状待测件的表面轮廓参数。 | ||
搜索关键词: | 核辐射环境 物体表面轮廓测量 安装壳体 本实用新型 表面轮廓 测量模块 辐射屏蔽 壳体 测量 表面轮廓参数 控制处理系统 核辐射 测量设备 测量装置 装置实现 抗干扰 待测件 耐辐射 核工业 | ||
【主权项】:
1.一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置,其特征在于:包括辐射屏蔽壳体(1)、测量模块(2)、安装壳体(3)和控制处理系统(4),所述测量模块(2)安装在安装壳体(3)上,所述安装壳体(3)置于辐射屏蔽壳体(1)内,所述测量模块(2)与控制处理系统(4)电连接,所述测量模块(2)包括线激光投射器(201)、图像采集模块(202)、测量模块安装板(203)和防辐射玻璃(204),所述激光投射器(201)用于将激光投射到待测件表面,并与物体表面轮廓相交形成光条;所述图像采集模块(202)用于对上述光条进行成像,其图像传感器类型可以是CCD或CMOS;所述激光投射器(201)和图像采集模块(202)呈一定夹角安装在安装壳体上;所述防辐射玻璃(204)安装于安装壳体(3)上,所述防辐射玻璃(204)为核工业用的高密度铅玻璃;所述辐射屏蔽壳体(1)包括辐射屏蔽壳体前板(101)、辐射屏蔽壳体左侧板(102)、辐射屏蔽壳体后板(103)、辐射屏蔽壳体上板(104)、辐射屏蔽壳体右侧板(105)和辐射屏蔽壳体底板(106),辐射屏蔽壳体前板(101)、辐射屏蔽壳体左侧板(102)、辐射屏蔽壳体后板(103)、辐射屏蔽壳体上板(104)、辐射屏蔽壳体右侧板(105)和辐射屏蔽壳体底板(106)通过螺栓连接为一个腔体,所述辐射屏蔽壳体前板(101)开有观察窗口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821971462.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。