[实用新型]一种功率半导体器件沟槽型截止环结构有效

专利信息
申请号: 201821972671.4 申请日: 2018-11-27
公开(公告)号: CN209016061U 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 袁力鹏;徐吉程;范玮 申请(专利权)人: 华羿微电子股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710018 陕西省西安市经*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种功率半导体器件沟槽型截止环结构。该结构通过将截止区内的截止环设置成双层多晶硅的结构,在第一多晶硅内部形成第二多晶层的沟槽型结构,有效增加截止环截止效率,避免各技术单独使用时的缺点,提高结终端的耐压效率和降低终端使用尺寸及反向漏电流。同时不会大幅增加设计难度和制作成本。
搜索关键词: 截止环 功率半导体器件 沟槽型 截止 本实用新型 反向漏电流 沟槽型结构 双层多晶硅 单独使用 终端使用 多晶层 多晶硅 结终端 耐压 制作
【主权项】:
1.一种功率半导体器件沟槽型截止环结构,其特征在于,所述沟槽型截止环设置在功率半导体器件的截止区(7),所述沟槽型截止环包括环状的第二沟槽(13),第二沟槽(13)的内壁表面设置有第一栅氧化层(3),第一栅氧化层(3)内填充有第一多晶硅(4),第一多晶硅(4)内的沟槽内壁表面设置有第二栅氧化层(5),第二栅氧化层(5)内填充有第二多晶硅(8)。
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