[实用新型]一种高精度颗粒物质量浓度检测装置有效

专利信息
申请号: 201821989273.3 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN209764664U 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 熊友辉;刘志强;何涛;黄铮;杨伟;周盟 申请(专利权)人: 四方光电股份有限公司
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06;G01N15/02
代理公司: 42238 武汉知产时代知识产权代理有限公司 代理人: 郝明琴
地址: 430000 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型提出一种高精度颗粒物质量浓度检测装置,包括激光发射单元、激光检测单元,激光发射单元包括一片学透镜,光学透镜一面为光轴对称的非球面作为入射面用于准直,另一面为圆柱面作为出射面用于会聚,可将激光光束整形为线形光束;一方面克服了以往采用聚焦透镜,激光光束被聚焦为点光束,能量分布不均匀导致测量不准确的的技术缺陷,消除了不同粒径颗粒物之间的测量干扰,实现不同粒径颗粒物的同时测量;另一方面克服了以往采用两片光学透镜,透镜间存在一定的距离导致光路调试复杂的技术缺陷,简化了结构、降低了光路调试难度及节约了制造成本;无需昂贵的气泵,适于大批量推广应用。
搜索关键词: 颗粒物 透镜 激光发射单元 光路调试 光学透镜 激光光束 技术缺陷 测量 粒径 质量浓度检测 本实用新型 光轴对称 激光检测 聚焦透镜 能量分布 线形光束 制造成本 不均匀 出射面 非球面 入射面 圆柱面 整形 气泵 准直 会聚 聚焦 节约
【主权项】:
1.一种高精度颗粒物质量浓度检测装置,包括激光发射单元和激光检测单元,其特征在于:所述激光发射单元包括光源和光学透镜,所述光源产生的光束经光学透镜整形后形成线形光束,所述激光检测单元接收经过线形光束的颗粒物,并输出对应的检测信号;/n所述光学透镜的一面为光轴对称的非球面,另一面为圆柱面;光轴对称的所述非球面设置于光的入射面,所述圆柱面设置于光的出射面。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四方光电股份有限公司,未经四方光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821989273.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top