[实用新型]一种集成电路的测试装置

摘要

本实用新型公开了一种集成电路的测试装置，包括底座、定位机构、检测架和测试机构，所述测试机构包括安装板和检测机体，所述检测机体固定在安装板的上表面，所述安装板的下表面中间安装有检测探针，所述安装板的下表面四个拐角处均固定有导向杆，所述导向杆的圆周外部插接有弹簧，所述检测架位于测试机构的下方，所述检测架包括架体，所述架体的上表面靠近四个拐角处均开设有竖直通孔，本实用新型设置了推拉机构、定位机构以及载板机构，推拉机构通过推拉载板机构来将载板主体推出凹槽，从而方便了工作人员将需要检测的集成电路放置到载板主体上，便捷了操作，并且定位机构可以将集成电路进行夹紧，使得集成电路能够被定位，定位方便。

主权项

1.一种集成电路的测试装置，包括底座(1)、定位机构(5)、检测架(6)和测试机构(9)，所述测试机构(9)包括安装板(91)和检测机体(95)，所述检测机体(95)固定在安装板(91)的上表面，所述安装板(91)的下表面中间安装有检测探针(94)，其特征在于：所述安装板(91)的下表面四个拐角处均固定有导向杆(93)，所述导向杆(93)的圆周外部插接有弹簧(92)，所述检测架(6)位于测试机构(9)的下方，所述检测架(6)包括架体(61)，所述架体(61)的上表面靠近四个拐角处均开设有竖直通孔(62)，所述导向杆(93)的下端穿过竖直通孔(62)的下表面，所述架体(61)的后方安装有推拉机构(7)，所述架体(61)的一侧安装有控制机构(4)，所述架体(61)的上表面中部开设有凹槽(63)，所述凹槽(63)的内部设置有载板机构(8)，所述载板机构(8)包括载板主体(81)，所述载板主体(81)的中部开设有检测槽(84)，且载板主体(81)的两侧均开设有开孔(82)，所述载板主体(81)的后端面与推拉机构(7)相连接，所述底座(1)位于检测架(6)的下方，所述底座(1)的上表面四个拐角处均固定有升降机构(3)，所述升降机构(3)的上端与导向杆(93)的下端相固定，所述底座(1)的下表面四个拐角处均固定有垫脚(2)。