[实用新型]一种用于调整功率半导体器件电容比例的版图结构有效

专利信息
申请号: 201822023721.0 申请日: 2018-12-04
公开(公告)号: CN209199937U 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 孔梓玮;蒋兴莉;王思亮;胡强 申请(专利权)人: 成都森未科技有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/06
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 苏丹
地址: 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请涉及半导体制造领域,特别是一种用于调整功率半导体器件电容比例的版图结构,包括芯片版图底版,芯片版图底板的上表面淀积有栅极跑道,芯片版图底版的上表面开设有多个第一圈栅极槽,每个第一圈栅极槽内部开设有第二圈栅极槽,每个第二圈栅极槽内部开设有第三圈栅极槽,相互套接的第一圈栅极槽、第二圈栅极槽和第三圈栅极槽形成一个周期性的同心椭圆结构。本实用新型可以有效增加器件的电子沟道密度,同时增加器件的浮空区域,优化载流子分布,进一步降低期间的导通压降,并通过调整第三圈栅极槽的所接电极,提高器件开关速度,降低开关损耗,增大器件可使用频率范围。同时可以通过在第三圈栅极槽上方开设发射极孔或者浮空,调整器件的电容比例。
搜索关键词: 栅极槽 芯片版图 电容 半导体器件 底版 版图结构 调整功率 上表面 浮空 载流子 半导体制造领域 同心椭圆结构 本实用新型 底板 导通压降 电子沟道 调整器件 开关损耗 器件开关 使用频率 发射极 接电极 淀积 套接 跑道 申请 优化
【主权项】:
1.一种用于调整功率半导体器件电容比例的版图结构,其特征在于:包括芯片版图底版(1),所述芯片版图底板的上表面淀积有栅极跑道(2),所述芯片版图底版(1)的上表面开设有多个第一圈栅极槽(3),每个所述第一圈栅极槽(3)内部开设有第二圈栅极槽(4),每个所述第二圈栅极槽(4)内部开设有第三圈栅极槽(5),相互套接的第一圈栅极槽(3)、第二圈栅极槽(4)和第三圈栅极槽(5)形成一个周期性的同心椭圆结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都森未科技有限公司,未经成都森未科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201822023721.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top