[实用新型]半导体元件晶圆有效

专利信息
申请号: 201822081361.X 申请日: 2018-12-12
公开(公告)号: CN209216946U 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 卢智宏;杨毓儒;徐周和;刘育全;张杰雄 申请(专利权)人: 奕力科技股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 罗英;臧建明
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型提供一种半导体元件晶圆,其包括多个元件区、多个密封环以及切割道区。各个密封环围绕每一个元件区。切割道区位于相邻的两个密封环之间。切割道区包括多个结构增强区。每一个结构增强区包括多个增强结构。这些结构增强区彼此分离且位于切割道区的边界。因此,本实用新型的半导体元件晶圆在对半导体元件晶圆进行切割的时候,可以降低对密封环内的元件区所造成的损伤。
搜索关键词: 半导体元件 密封环 切割道 晶圆 结构增强 元件区 本实用新型 彼此分离 增强结构 切割 损伤
【主权项】:
1.一种半导体元件晶圆,其特征在于,包括:多个元件区;多个密封环,围绕每一所述多个元件区;以及切割道区,位于相邻的两个所述多个密封环之间,且所述切割道区包括:多个结构增强区,每一所述多个结构增强区包括多个增强结构,其中所述多个结构增强区彼此分离且位于所述切割道区的边界。
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