[实用新型]综合校准装置及终端测试系统有效

专利信息
申请号: 201822085911.5 申请日: 2018-12-11
公开(公告)号: CN209296031U 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 黄培坤;普丽宏;王琦琳;刘志发;王侍新 申请(专利权)人: 深圳市艾特讯科技有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01P21/00;G01V13/00;H04M1/24
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供了一种综合校准装置及终端测试系统,该综合校准装置包括机壳、平移机构、光感校准机构、距感校准机构、加速度重力校准机构以及移载机构,平移机构用于承载和运输治具,光感校准机构和距感校准机构设于平移机构的正面,加速度重力校准机构,用于校准加速度和重力传感器,加速度重力校准机构设于平移机构侧面,移载机构用于将终端在治具和加速度重力校准机构之间转移。本实用新型提供的综合校准装置及终端测试系统,将各类校准机构集中在该综合校准装置中,且通过设置移载机构使终端可在加速度重力校准机构和其他校准机构之间转移。如此,将终端测试中校准集中至一个装置中进行,减少所需设置的工位,提高测试的效率。
搜索关键词: 校准机构 综合校准装置 平移机构 终端测试系统 移载机构 本实用新型 治具 终端 重力传感器 终端测试 校准 工位 测试 承载 侧面 运输
【主权项】:
1.综合校准装置,其特征在于,包括:机壳,其上开设有治具进出口;平移机构,用于承载和运输治具且与所述治具进出口相正对;光感校准机构,用于校准光线传感器且设于所述平移机构的正面;距感校准机构,用于校准距离传感器且设于所述平移机构和所述光感校准机构之间;加速度重力校准机构,用于校准加速度和重力传感器,所述加速度重力校准机构设于所述平移机构侧面;以及移载机构,用于将终端在所述治具和所述加速度重力校准机构之间转移。
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