[实用新型]测试治具的升降结构有效
| 申请号： | 201822104307.2 | 申请日： | 2018-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN209640379U | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 林季欣 | 申请（专利权）人： | 协特利有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 11019 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁;张琳<国际申请>=<国际公布>=< |
| 地址： | 中国台湾新北市新*** | 国省代码： | 中国台湾;TW |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型揭露一种测试治具的升降结构，通过本实用新型的测试治具的升降结构提供便利测试两段式待测物。本实用新型的测试治具的升降结构是以由内箱、外箱、底座所组成，其中，旋钮旋转推动行程压力块，借此波形弹簧施力于上阶荷重压面与下阶荷重压面压迫两段面待测物。 | ||
| 搜索关键词： | 本实用新型 测试治具 升降结构 待测物 荷重 压面 波形弹簧 行程压力 两段式 两段 内箱 上阶 施力 下阶 旋钮 底座 压迫 测试 便利 | ||
【主权项】：
1.一种测试治具的升降结构，其特征在于，该测试治具的升降结构包含：/n内箱，该内箱更包含内箱体上盖、行程压力块、上阶荷重压块上半部、下阶荷重压块、上阶荷重压块下半部与多个波形弹簧，上述的上阶荷重压块上半部与该上阶荷重压块下半部穿套该下阶荷重压块，该内箱体上盖置于该内箱的一侧，该行程压力块穿套该内箱置于该内箱体上盖的一侧，其中，该波形弹簧置于该上阶荷重压块下半部穿套该上阶荷重压块上半部与该行程压力块接触，其中，该波形弹簧置于下阶荷重压块穿过该上阶荷重压块上半部与该行程压力块接触；/n外箱，该外箱更包含旋钮、外箱体上盖、外箱与外箱卡扣，上述的旋钮穿套外箱体上盖，外箱体上盖置于外箱的外箱上，外箱卡扣置于外箱的外侧；/n上述的内箱置于该外箱内，其中，该旋钮穿套该内箱体上盖、该行程压力块、该上阶荷重压块上半部、该上阶荷重压块下半部，并且该旋钮与该行程压力块相互结合。/n
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