[实用新型]一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备有效
| 申请号： | 201822132338.9 | 申请日： | 2018-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN209342833U | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 高长明 | 申请（专利权）人： | 杭州可明电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 浙江永鼎律师事务所 33233 | 代理人： | 陆永强;张建 |
| 地址： | 311122 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备，包括待测模块和连接于所述待测模块的MCU模块，所述待测模块的输入端通过电磁继电器和控制开关连接于供电电源，所述电磁继电器连接于所述MCU模块，所述待测模块的输出端连接有负载模块，所述待测模块包括多个供充电控制模块插接的工装位，多个工装位相互串联连接且分别连接于所述MCU模块，且电磁继电器控制端连接有第一开关电路，所述第一开关电路包括第一开关管，所述第一开关管的控制端连接于所述MCU模块。本实用新型将充电控制模块进行串联老化，大大加快老化进度，同时缩减工人频繁操作的时间，提高工作效率与生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 待测模块 充电控制模块 电磁继电器 串联 本实用新型 第一开关 开关电路 老化设备 控制端 工装 老化 输出端连接 负载模块 工作效率 供电电源 生产效率 输入端 插接 进度 | ||
【主权项】：
1.一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备，其特征在于，包括待测模块(1)和连接于所述待测模块(1)的MCU模块(U1)，所述待测模块(1)的输入端通过电磁继电器(K1)和控制开关(S)连接于供电电源，所述电磁继电器(K1)连接于所述MCU模块(U1)，所述待测模块(1)的输出端连接有负载模块(2)，所述待测模块(1)包括多个供充电控制模块插接的工装位(P1～P8)，多个工装位(P1～P8)相互串联连接且分别连接于所述MCU模块(U1)，所述电磁继电器(K1)的控制端连接有第一开关电路(3)，所述第一开关电路(3)包括第一开关管(Q012)，所述第一开关管(Q012)的控制端连接于所述MCU模块(U1)。
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