[实用新型]高密度等离子体硅片表面进行化学气相沉积设备有效

专利信息
申请号: 201822136832.2 申请日: 2018-12-19
公开(公告)号: CN209428601U 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 张波;刘涛;黄彪 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: C23C16/513 分类号: C23C16/513
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 郭四华
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种高密度等离子体硅片表面进行化学气相沉积设备,涉及半导体集成电路制造技术,包括射频调频器和腔体,所述射频调频器位于所述腔体之上,所述腔体包括一顶盖,所述射频调频器包括容置空间和盖板,所述盖板组装于所述容置空间上,一电容设置于所述容置空间内,在所述盖板上设置一进风风扇和一出风风扇,其中所述进风风扇靠近所述电容设置,所述出风风扇远离所述电容设置,以使冷风通过所述进风风扇进入所述容置空间内、经过所述电容后从所述出风风扇流出,以预防电容爆浆,进而提高半导体产品的良率及半导体产品的生产率。
搜索关键词: 电容 容置空间 射频调频器 出风风扇 进风风扇 盖板 腔体 化学气相沉积设备 高密度等离子体 半导体产品 硅片表面 半导体集成电路制造 本实用新型 顶盖 冷风 良率 流出 组装 预防
【主权项】:
1.一种高密度等离子体硅片表面进行化学气相沉积设备,其特征在于,包括射频调频器和腔体,所述射频调频器位于所述腔体之上,所述腔体包括一顶盖,所述射频调频器包括容置空间和盖板,所述盖板组装于所述容置空间上,一电容设置于所述容置空间内,在所述盖板上设置一进风风扇和一出风风扇,其中所述进风风扇靠近所述电容设置,所述出风风扇远离所述电容设置,以使冷风通过所述进风风扇进入所述容置空间内、经过所述电容后从所述出风风扇流出。
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