[实用新型]高密度等离子体硅片表面进行化学气相沉积设备有效
申请号: | 201822136832.2 | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN209428601U | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | 张波;刘涛;黄彪 | 申请(专利权)人: | 上海华力集成电路制造有限公司 |
主分类号: | C23C16/513 | 分类号: | C23C16/513 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 郭四华 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种高密度等离子体硅片表面进行化学气相沉积设备,涉及半导体集成电路制造技术,包括射频调频器和腔体,所述射频调频器位于所述腔体之上,所述腔体包括一顶盖,所述射频调频器包括容置空间和盖板,所述盖板组装于所述容置空间上,一电容设置于所述容置空间内,在所述盖板上设置一进风风扇和一出风风扇,其中所述进风风扇靠近所述电容设置,所述出风风扇远离所述电容设置,以使冷风通过所述进风风扇进入所述容置空间内、经过所述电容后从所述出风风扇流出,以预防电容爆浆,进而提高半导体产品的良率及半导体产品的生产率。 | ||
搜索关键词: | 电容 容置空间 射频调频器 出风风扇 进风风扇 盖板 腔体 化学气相沉积设备 高密度等离子体 半导体产品 硅片表面 半导体集成电路制造 本实用新型 顶盖 冷风 良率 流出 组装 预防 | ||
【主权项】:
1.一种高密度等离子体硅片表面进行化学气相沉积设备,其特征在于,包括射频调频器和腔体,所述射频调频器位于所述腔体之上,所述腔体包括一顶盖,所述射频调频器包括容置空间和盖板,所述盖板组装于所述容置空间上,一电容设置于所述容置空间内,在所述盖板上设置一进风风扇和一出风风扇,其中所述进风风扇靠近所述电容设置,所述出风风扇远离所述电容设置,以使冷风通过所述进风风扇进入所述容置空间内、经过所述电容后从所述出风风扇流出。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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