[实用新型]薄膜涂层色度分析设备和薄膜涂层分类系统有效

专利信息
申请号: 201822143468.2 申请日: 2018-12-19
公开(公告)号: CN209513603U 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 唐永炳;周小龙 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 吴乃壮
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供了一种薄膜涂层色度分析设备和薄膜涂层分类系统,属于薄膜涂层色度分析技术领域。本实用新型提供了一种薄膜涂层色度分析设备,包括分光色度计、光源和待测样品;待测样品包括基材和设置在基材上表面的薄膜涂层;分光色度计和光源设置在待测样品的上方;光源与待测样品的距离为15‑35cm;直线A与直线B的夹角为1‑15°。通过薄膜涂层色度分析设备获得不同种类薄膜涂层的色度值,建立数据库,从而通过测定待测薄膜涂层色度值,结合数据库简单快速地判断薄膜涂层的种类,这种分类方法简单、快捷、实用,应用于类金刚石薄膜分类,可大幅度简化类金刚石薄膜分类过程,为实际应用于生产带来了极大的便利。
搜索关键词: 薄膜涂层 色度分析 待测样品 类金刚石薄膜 本实用新型 分类系统 色度计 分光 光源 色度 基材上表面 建立数据库 分类过程 光源设置 夹角为 分类 基材 应用 数据库 便利 生产
【主权项】:
1.一种薄膜涂层色度分析设备,其特征在于,包括分光色度计、光源和待测样品;所述待测样品包括基材和设置在基材上表面的薄膜涂层;所述分光色度计和光源设置在待测样品的上方;所述光源与待测样品的距离为15‑35cm;所述光源的中心点到待测样品的垂足为交点D;所述光源的中心点到交点D的直线为直线A,所述分光色度计的中心点到交点D的直线为直线B;所述直线A与直线B的夹角为1‑15°。
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