[实用新型]一种带内阻测试功能电子负载装置

摘要

本实用新型公开了一种带内阻测试功能电子负载装置，包括操作面板、MCU处理器、控制模块、数据采集模块、交流耦合电压采样模块和功率模块，所述MCU处理器的输出端连接操作面板及控制模块的输入端，控制模块的输出端连接功率模块的输入端，功率模块的输出端连接数据采集模块及交流耦合电压采样模块的输入端，数据采集模块及交流耦合电压采样模块的输出端均与MCU处理器的输入端连接。本带内阻测试功能电子负载装置，通过添加交流耦合电压采样模块再结合精密恒流带载控制，实现电子负载测试内阻功能；通过将内阻测试功能集成到电子负载内部，使得电子负载具有测内阻功能，降低了电源转换产品或者储能器件测试系统成本，提高测试效率。

主权项

1.一种带内阻测试功能电子负载装置，包括操作面板(1)、MCU处理器(2)、控制模块(3)、数据采集模块(4)、交流耦合电压采样模块(5)和功率模块(6)，其特征在于：所述MCU处理器(2)的输出端连接操作面板(1)及控制模块(3)的输入端，控制模块(3)的输出端连接功率模块(6)的输入端，功率模块(6)的输出端连接数据采集模块(4)及交流耦合电压采样模块(5)的输入端，数据采集模块(4)及交流耦合电压采样模块(5)的输出端均与MCU处理器(2)的输入端连接；所述交流耦合电压采样模块(5)包括运算放大器U1A、运算放大器U1B和电压比较器U2，运算放大器U1B的脚5依次串接电阻R1、电阻R2和电容C2接RMT‑接线端子，运算放大器U1B的脚6依次串接电阻R7、电阻R8接运算放大器U1A的输出端，运算放大器U1A的脚3依次串接电阻R14、电阻R13、电容C7接RMT+接线端子，电容C2的输出依次接电阻R6、电阻R10接电阻R13的输入端，电阻R6的输出端接地，电阻R13的输出端接二极管D2接电阻R1的输入端，运算放大器U1A的脚4串接电容C4接地，电容C4的输入端接‑15V电源端子，运算放大器U1A的脚5串接电容C5接地，电容C5的输入端接+15V电源端子，运算放大器U1A的脚2接电阻R7的输入端；所述运算放大器U1B的脚7串接电阻R3接电压比较器U2的脚2，电阻R3的输入端接电阻R5接电阻R7的输出端，电阻R3的输出端接电阻R4接电压比较器U2的脚6，电阻R4的两端并接电容C1；所述电压比较器U2的脚4串接电容C3接地，电容C3的输入端接‑15V电源端子，电压比较器U2的脚7串接电容C6接地，电容C7的输入端接+15V电源端子，电压比较器U2的脚32接电阻R12接运算放大器U1A的脚1，电阻R12的输出端依次接电阻R15和电阻R16接+3.3VREF电源端子，电阻R16的输入端接电阻R17接REF‑G端子；所述电压比较器U2的脚6依次串接电阻R8和电阻R9接Vres端子，电阻R8的输出端接二极管D1的输入端，二极管D1的输出端接地，二极管D1的输入端接二极管D3的输出端，二极管D3的输入端接+3.3V电源端子，电阻R9的输入端接电容C5接地。