[实用新型]半导体制冷片综合测试设备

摘要

本实用新型公开了半导体制冷片综合测试设备，所述检测台上端面的中心位置开设有可容纳半导体制冷片的放置槽，所述检测台上端面的左右两侧对称焊接有限位板，所述限位板前端面中心位置的左右两侧对称焊接有导管，所述挡板的左右两侧对称设置有第一电动推杆，两所述第一电动推杆的伸缩轴相向设置、且端部均焊接有绝缘板，所述工作台前端面的中心位置通过螺栓固定有电阻测试仪，所述龙门架包括垂直板和横板，所述横板下端面的左侧通过螺栓固定有第二电动推杆，所述滑台滑动连接在所述横板的下端面上，所述滑台下端面的中心位置通过螺栓固定有红外测距传感器，本实用新型不仅检测效率高，大大降低了劳动强度，而且结构简单，使用小批量检测。

主权项

1.半导体制冷片综合测试设备，包括工作台(1)和龙门架(2)，其特征在于：所述工作台(1)上端面的中心位置焊接有检测台(11)，所述检测台(11)上端面的中心位置开设有可容纳半导体制冷片的放置槽(111)，所述检测台(11)上端面的左右两侧对称焊接有限位板(113)，所述限位板(113)前端面中心位置的左右两侧对称焊接有导管(112)，所述导管(112)的后端与所述放置槽(111)相连通，两所述导管(112)中间位置的前侧设置有挡板(12)，所述挡板(12)与所述工作台(1)的上端面垂直焊接相连，所述挡板(12)的左右两侧对称设置有第一电动推杆(3)，所述第一电动推杆(3)通过螺栓固定在所述工作台(1)的上端面，两所述第一电动推杆(3)的伸缩轴相向设置、且端部均焊接有绝缘板(31)，所述工作台(1)前端面的中心位置通过螺栓固定有电阻测试仪(4)，所述电阻测试仪(4)的正极触脚(41)焊接在左侧所述绝缘板(31)右端面的中心位置上，所述电阻测试仪(4)的负极触脚(42)焊接在右侧所述绝缘板(31)左端面的中心位置上，所述龙门架(2)包括垂直板(21)和横板(22)，所述垂直板(21)对称设置在所述工作台(1)上端面的左右两侧，所述垂直板(21)的下端焊接在所述工作台(1)上端面上，所述横板(22)设置在所述垂直板(21)之间，所述横板(22)的左端与左侧所述垂直板(21)右端面的上侧焊接相连，另一端与右侧所述垂直板(21)左端面的上侧焊接相连，所述横板(22)下端面的左侧通过螺栓固定有第二电动推杆(5)，所述第二电动推杆(5)的伸缩轴水平向右设置、且端部焊接有滑台(51)，所述滑台(51)滑动连接在所述横板(22)的下端面上，所述滑台(51)可在所述限位板(113)之间左右滑动，所述滑台(51)下端面的中心位置通过螺栓固定有红外测距传感器(511)，所述红外测距传感器(511)的发射头竖直向下，所述横板(22)上端面的右侧设置有单片机控制器(6)和指示灯(7)，所述第一电动推杆(3)、第二电动推杆(5)、电阻测试仪(4)、红外测距传感器(511)和指示灯(7)均与所述单片机控制器(6)电路连接。