[实用新型]一种小型晶体摆放治具平整度检测装置有效
| 申请号： | 201822207068.3 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN209246923U | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 王文博;林土全;詹啸;程浩;金春建 | 申请（专利权）人： | 黄山东晶电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28;G01B5/30;G01B5/14 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 叶绿林;杨大庆 |
| 地址： | 245000 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种小型晶体摆放治具平整度检测装置，包括检测底板，安装在检测底板两侧用于限制治具的侧挡板，所述检测底板的一端设置有上挡板，所述检测底板上还设置有与上挡板平行设置的检测板，所述检测板的底面为平面结构，且检测板与检测底板间留有供治具通过的检测间隙。本实用新型结构简单，操作方便，检测效率高，可广泛应用于小型晶体摆放治具的检测领域。 | ||
| 搜索关键词： | 底板 治具 检测 小型晶体 检测板 平整度检测装置 本实用新型 上挡板 摆放 检测领域 平面结构 平行设置 一端设置 侧挡板 底面 应用 | ||
【主权项】：
1.一种小型晶体摆放治具平整度检测装置，其特征在于：包括检测底板(1)，安装在检测底板(1)两侧用于限制治具的侧挡板(2)，所述检测底板(1)的一端设置有上挡板(3)，所述检测底板(1)上还设置有与上挡板(3)平行设置的检测板(4)，所述检测板(4)的底面为平面结构，且检测板(4)与检测底板(1)间留有供治具通过的检测间隙(5)。
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