[实用新型]一种高精轮廓度辅助测量治具有效
| 申请号： | 201822269461.5 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN209512818U | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | 陈伟华;贺林;刘新泉;陈海平 | 申请（专利权）人： | 金德精密配件（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 马明渡;吴雯珏 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种高精轮廓度辅助测量治具，用于轮廓度待检测零件的辅助测量，待检测零件包括一零件主体，该零件主体上具有一待检测轮廓度的圆弧，所述零件主体上间隔设有第一通孔和第二通孔；辅助测量治具包括一基板，基板上设有第一磁体、第二磁体、第三磁体、第一定位凸起以及第二定位凸起，第一磁体、第二磁体以及第三磁体依次间隔固定排列在基板上，第一定位凸起设于第一磁体和第二磁体之间，且靠近第一磁体，所述第二定位凸起设于第二磁体和第三磁体之间，且靠近第三磁体，第一定位凸起和第二定位凸起分别与所述待检测零件的第一通孔和第二通孔一一对应设置；基板将待检测零件在X轴、Y轴以及Z轴方向上定位。 | ||
| 搜索关键词： | 定位凸起 待检测零件 辅助测量 轮廓度 基板 通孔 零件主体 治具 一一对应设置 本实用新型 间隔固定 检测 | ||
【主权项】：
1.一种高精轮廓度辅助测量治具，其特征在于：用于轮廓度待检测零件的辅助测量，所述待检测零件包括一零件主体，该零件主体上具有一待检测轮廓度的圆弧，所述零件主体上间隔设有第一通孔和第二通孔；所述辅助测量治具包括一基板，所述基板上设有第一磁体、第二磁体、第三磁体、第一定位凸起以及第二定位凸起，所述第一磁体、第二磁体以及第三磁体依次间隔固定排列在基板上，所述第一定位凸起设于第一磁体和第二磁体之间，且靠近第一磁体，所述第二定位凸起设于第二磁体和第三磁体之间，且靠近第三磁体，所述第一定位凸起和第二定位凸起分别与所述待检测零件的第一通孔和第二通孔一一对应设置；定义水平方向垂直的两个方向分别为X轴方向和Y轴方向，定义竖直的方向为Z轴方向；在装配状态下，所述待检测零件安置在所述基板上，所述基板上的第一定位凸起穿设在零件主体的第一通孔中，所述基板上的第二定位凸起穿设在零件主体的第二通孔中，以将待检测零件在X轴、Y轴方向上定位，所述第一磁体、第二磁体以及第三磁体均位于零件主体的下方，用于吸附待检测零件，以将待检测零件在Z轴方向上定位。
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