[实用新型]基于零维欧姆接触的硅基纳米线量子点的装置有效

专利信息
申请号: 201822277952.4 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN209522573U 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 李海欧;李炎;刘赫;曹刚;郭光灿;郭国平 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: B82B3/00 分类号: B82B3/00;B81C1/00;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李坤
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型提供了一种基于零维欧姆接触的硅基纳米线量子点的装置,包括:硅基纳米线基片结构、量子点电极结构和测量电路;硅基纳米线基片结构自下而上顺次包括:非掺杂硅衬底、硅缓冲层、锗层、硅包覆层和二氧化硅层;锗层中还包括量子点;量子点电极结构包括:源电极、漏电极、绝缘层和顶栅极电极;源电极和漏电极,分别置于硅基纳米线结构的两端,且与硅基纳米线结构零维接触;绝缘层,生长于硅基纳米线基片结构的二氧化硅层上;顶栅极电极,生长于绝缘层上;顶栅极电极通过绝缘层隔绝与源电极和漏电极接触;顶栅极电极用于调节载流子在量子点电极结构中的状态。本实用新型简化制备工艺,提高硅基纳米线量子点的制备成功率。
搜索关键词: 硅基纳米线 量子点 绝缘层 栅极电极 电极结构 基片结构 漏电极 源电极 本实用新型 二氧化硅层 欧姆接触 锗层 载流子 简化制备工艺 测量电路 硅缓冲层 非掺杂 硅衬底 生长 覆层 硅包 制备 成功率
【主权项】:
1.一种基于零维欧姆接触的硅基纳米线量子点的装置,其特征在于,包括:硅基纳米线基片结构,自下而上顺次包括:非掺杂硅衬底(100)、硅缓冲层(101)、锗层(102)、硅包覆层(103)和二氧化硅层(104);所述锗层(102)中还包括量子点(601);所述锗层(102)、硅包覆层(103)和二氧化硅层(104)形成凸起结构作为硅基纳米线;量子点电极结构,包括:源电极(401)和漏电极(402),分别置于所述硅基纳米线结构的两端,且与所述硅基纳米线结构零维接触;绝缘层(201),制备于所述硅基纳米线基片结构的所述二氧化硅层(104)上;顶栅极电极(501),生长于所述绝缘层(201)上;所述绝缘层(201)隔绝所述顶栅极电极(501)与源电极(401)和漏电极(402);所述顶栅极电极(501)用于调节载流子在量子点电极结构中的状态。
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