[外观设计]轨道电路测试盘有效
| 申请号： | 201830122394.7 | 申请日： | 2018-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN304771579S | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 王翠平;王金平 | 申请（专利权）人： | 济南友研电子技术有限公司 |
| 主分类号： | 10-04 | 分类号： | 10-04 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 赵妍 |
| 地址： | 250000 山东省济南市历城区*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1．本外观设计产品的名称：轨道电路测试盘。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试25Hz相敏轨道电路在调整状态下和分路状态下的电压和相位角。3．本外观设计产品的设计要点：产品外形及3*18柱接线端子。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图2。5．省略视图：左视图，该视图无设计要点；仰视图：该视图无设计要点。 | ||
| 搜索关键词： | 外观设计 轨道电路 测试盘 相敏轨道电路 产品外形 调整状态 分路状态 接线端子 相位角 左视图 省略 仰视 测试 图片 | ||
【主权项】：
暂无信息
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