[发明专利]用于分析装配玻璃质量的光学装置的校准以及相关方法在审

专利信息
申请号: 201880001610.X 申请日: 2018-05-31
公开(公告)号: CN109564156A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: R.德库尔塞勒;O.迪穆兰;T.里巴齐克 申请(专利权)人: 法国圣戈班玻璃厂
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N21/896;G01N21/23;G01N21/958;C03B35/16;G01B11/16;G01L1/24;G01N21/21
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郑瑾彤;刘春元
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 本申请公开了光学装置(1000、1001、1002),其包括第一偏振器、一组第一光电探测器(6、6')以及光学延迟发生器(3)。本申请还公开了装配玻璃质量分析装置(2001、2002、2003)、加热和淬火流水线、以及制造方法、校准方法和质量分析方法。
搜索关键词: 光学装置 校准 装配 质量分析装置 光电探测器 玻璃 光学延迟 质量分析 发生器 偏振器 淬火 流水线 加热 申请 制造 分析
【主权项】:
1.光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,其包括第一偏振器,第一偏振器沿着按照光轴(Z)的光学对齐以此顺序包括:‑ 第一光源(1),优选为多色光源,其具有给定光谱、正交于所述光轴、释放光束,‑ 第一圆形偏光镜(2),其在第一偏振旋转方向上、正交于所述光轴、包括第一线性偏光镜接着是第一四分之一波片,‑ 第一检偏振器(2),其为圆形偏光镜,其在与第一旋转方向相反的第二偏振旋转方向上、正交于所述光轴,第一检偏振器包括第二四分之一波片接着是第二线性偏光镜,并且其特征在于,所述光学装置在第一检偏振器的下游并且沿着所述光学对齐包括,正交于所述光轴的第一数字传感器(6、6')以及正交于所述光轴并限定焦平面的第一物镜(5、5'),第一物镜面向第一数字传感器、在第一检偏振器与第一数字传感器之间,其特征在于,所述光学装置在第一偏光镜与第一检偏振器之间并且沿着所述光学对齐包括已检定的第一光学延迟发生器(3),其正交于所述光轴,在范围AB中,其中值A优选为在从0nm至100nm的范围内,并且差B‑A优选为至少100nm,第一光学延迟发生器处于所述焦平面中,其特征在于,第一数字传感器包括一组第一光电探测器(6、6'),其对第一光源的光谱敏感,具有给定的光谱响应,第一光电探测器中的一个或多个——称为第一校准光电探测器——面向第一光学延迟发生器,每个第一校准光电探测器针对所述范围AB中的所述光学延迟中的每一个连续接收从第一检偏振器出射的光束发出的光能,然后第一数字传感器针对所述范围AB中的所述光学延迟生成称作校准数字图像的数字图像,每个校准数字图像是用一个或多个参考通道Ck由一个或多个像素形成的,所述一个或多个像素表示一个或多个第一校准光电探测器的光谱响应,并且其特征在于,所述光学装置还包括用于处理校准数字图像的集合的第一数字处理单元,第一处理单元形成校准库,所述校准库针对所述范围AB中的每个光学延迟包含针对参考通道Ck中的每一个的数值Ik,Ik表示由一个或多个第一校准光电探测器收集的光能。
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