[发明专利]新型3D NAND存储器件及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201880002892.5 申请日: 2018-12-07
公开(公告)号: CN109690776B 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 宋雅丽;肖莉红;王明 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/1158 分类号: H01L27/1158
代理公司: 11376 北京永新同创知识产权代理有限公司 代理人: 林锦辉
地址: 430074 湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种3D‑NAND存储器件。该存储器件包括衬底、设置于衬底上方的底部选择栅极(BSG)、位于BSG上方并且具有阶梯配置的多条字线,以及设置于衬底、BSG和多条字线之间的多个绝缘层。在公开的存储器件中,一个或多个第一电介质沟槽形成于BSG中并且沿衬底的长度方向延伸,以将BSG分隔成多个子BSG。此外,一个或多个公共源极区形成于衬底上方并且在衬底的长度方向上延伸。一个或多个公共源极区还延伸穿过BSG、多条字线和多个绝缘层。
搜索关键词: 衬底 字线 绝缘层 公共源极区 存储器件 长度方向延伸 电介质沟槽 阶梯配置 选择栅极 延伸穿过 分隔 延伸
【主权项】:
1.一种存储器件,包括:/n衬底;/n底部选择栅极,所述底部选择栅极设置于所述衬底上方;/n多条字线,所述多条字线位于所述底部选择栅极上方并且具有阶梯配置;/n多个绝缘层,所述多个绝缘层设置于所述衬底、所述底部选择栅极和所述多条字线之间;/n一个或多个第一电介质沟槽,所述一个或多个第一电介质沟槽形成于所述底部选择栅极中并且沿所述衬底的长度方向延伸,以将所述底部选择栅极分隔成多个子底部选择栅极;以及/n一个或多个公共源极区,所述一个或多个公共源极区形成于所述衬底上方并且沿所述衬底的长度方向延伸,其中所述一个或多个公共源极区延伸穿过所述底部选择栅极、所述多条字线和所述多个绝缘层。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长江存储科技有限责任公司,未经长江存储科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880002892.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top