[发明专利]时间测量器件和时间测量单元有效
| 申请号： | 201880006334.6 | 申请日： | 2018-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN110462425B | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 长谷川浩一 | 申请（专利权）人： | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | G01S7/4861 | 分类号： | G01S7/4861;G01S7/4865;G01S17/894;H01L31/10;H01L31/107 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 曹正建;陈桂香 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供能够促进布局的时间测量器件。本发明的时间测量器件(20)包括：多个像素(30)，其在第一方向上并排设置，每个像素包括布置在第一半导体基板上的单光子雪崩二极管(SPAD)，并根据单光子雪崩二极管(SPAD)中的检出时刻产生第一逻辑信号(S35)；以及时间测量部(24)，其布置在与第一半导体基板结合的第二半导体基板上并测量多个像素(30)中的每个像素的检出时刻。多个像素(30)之中的除在第一方向上布置在一端处的第一像素之外的每个像素基于除该像素之外的一个像素的输出信号并基于该像素生成的第一逻辑信号(S35)来生成输出信号.时间测量单元(24)基于多个像素(30)之中的在第一方向上布置在另一端处的第二像素的输出信号来测量多个像素(30)中的每个像素的检出时刻。本发明的时间测量器件(20)可以例如应用到距离测量器件。 | ||
| 搜索关键词： | 时间 测量 器件 单元 | ||
【主权项】：
1.一种时间测量器件，其包括：/n多个像素，所述多个像素并排设置在第一方向上，并且每个像素包括布置在第一半导体基板上的单光子雪崩二极管并生成取决于所述单光子雪崩二极管中的检出时刻的第一逻辑信号；和/n时间测量部，所述时间测量部布置在与所述第一半导体基板结合的第二半导体基板上，并测量所述多个像素中的每个像素的所述检出时刻，/n其中，所述多个像素之中的除在所述第一方向上布置在一端处的第一像素之外的每个像素基于除该像素之外的一个像素的输出信号并基于在该像素中生成的所述第一逻辑信号来生成输出信号，并且/n其中，所述时间测量部基于所述多个像素之中的在所述第一方向上布置在另一端处的第二像素的输出信号来测量所述多个像素中的每个像素的所述检出时刻。/n
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