[发明专利]用于确定双壁真空绝热容器的绝热质量的装置和方法

摘要

一种双壁真空绝热容器(30，40)，具有外壁(1)、内壁(3)和位于它们之间的真空室(5)，真空室中设置有绝热装置(2，20)。至少三个相互间隔开的温度传感器(13，13a，13b，14，15)反复检测容器(30，40)的瞬时温度(T1，T2，T2A，T2B，T3)。使用基于容器的结构和材料特性以及由此产生的热辐射的传热模型至少以逐点的方式计算温度曲线，该温度曲线包含检测到的温度(T1，T2，T2A，T2B，T3)中的至少两个。温度曲线用于计算至少另外一个温度传感器的位置的温度设定点值，并与由该温度传感器检测到的温度实际值进行比较。温度设定点值与温度实际值之间的差值用于检测容器的绝热质量的变化。

主权项

1.一种用于确定双壁真空绝热的容器(30，40)的绝热质量的装置，其中，所述容器具有面向周围环境的外壁(1)以及限定内罐的内壁(3)，其中在双壁的容器的外壁和内壁之间形成有真空室(5)，所述真空室(5)中设置有至少一个绝热装置(2，20)，其特征在于，所述容器(30，40)具有至少三个彼此间隔开的温度传感器(13，13a，13b，14，15)，它们反复记录所述容器(30，40)的瞬时温度，其中所述温度传感器(13，13a，13b，14，15)的位置从所述外壁(1)、所述内壁(3)和/或所述绝热装置(2，20)处的位置中选择，其中所述装置包括评估单元(18)，所述评估单元(18)接收由所述温度传感器(13，13a，13b，14，15)记录的温度(T₁，T₂，T_2A，T_2B，T₃)，其中在所述评估单元(18)中存储有基于所述容器的结构和材料特性以及由此产生的热辐射的优选的逐层的热传递模型，并且其中所述评估单元(18)被配置为根据所述热传递模型至少在某些点计算温度曲线，根据所述温度曲线计算所述温度传感器中的至少一个另外的温度传感器所处位置的期望温度值，将所述期望温度值与由该温度传感器实际记录的实际温度值进行比较，并且在所述期望温度值与所述实际温度值之间的偏差超过极限值时，根据所述偏差检测所述容器的绝热质量的变化，所述温度曲线包含由所述温度传感器(13，13a，13b，14，15)记录的温度(T₁，T₂，T_2A，T_2B，T₃)中的至少两个温度。