[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201880007509.5 申请日: 2018-01-18
公开(公告)号: CN110199199B 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 大草武德;山下善宽;佐佐木俊辅 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 张敬强;金成哲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 为了分析性能的提高、装置的每单位空间的处理能力的提高,需要将具有分别不同的目标温度的多个单元更集中地配置于装置上。因此,需要减轻在单元间互相产生的温度的影响。基于装置的使用环境温度与各单元的目标温度的关系和单元要求的温度精度,使装置内的单元配置适当,从而减轻在单元间互相产生的温度影响,能够进行高效的温度控制。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:第一温度控制单元及第二温度控制单元,其分别具有温度调节机构,该温度调节机构具有热交换部;吸气导管,其将从吸气口吸引的空气向所述热交换部供给;排气导管,其将来自所述热交换部的空气朝向排气口排出;以及控制装置,其以使所述第一温度控制单元成为第一目标温度,使所述第二温度控制单元成为比第一目标温度高的第二目标温度的方式控制各个温度调节机构,所述第一温度控制单元配置于比所述第二温度控制单元靠近所述吸气口的位置。
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