[发明专利]制造探测器的子组件的方法有效

专利信息
申请号: 201880008710.5 申请日: 2018-01-25
公开(公告)号: CN110546532B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 米科·马蒂卡拉;阿瑞西·斯坦格 申请(专利权)人: 芬兰探测技术股份有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24;G01T1/29
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 尚玲;陈万青
地址: 芬兰*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 根据实施例的一种方法,包括:配置面板作为用于高能电磁(例如X射线或伽马射线)辐射的入射窗;在面板上附接偏置板,其中,偏置板被配置成导电的并使得辐射通过偏置板;以及将贴片阵列附接到偏置板上使得直接转换化合物半导体传感器配置在偏置板上,其中,每个贴片包括直接转换化合物半导体传感器和读出集成电路IC层;其中,直接转换化合物半导体传感器被配置成将高能电磁(例如X射线或伽马射线)辐射的光子转换成电流;以及其中,读出IC层位于直接转换化合物半导体传感器旁边,并被配置成接收电流并处理电流。其他实施例涉及包括组件阵列的探测器,以及包括X射线源和探测器的成像系统。
搜索关键词: 制造 探测器 组件 方法
【主权项】:
1.一种方法,包括:/n配置面板作为用于高能X射线或伽马射线电磁辐射的入射窗;/n在所述面板上附接偏置板,其中,所述偏置板被配置成导电的并使得所述辐射通过所述偏置板;以及/n将贴片的阵列附接到所述偏置板上使得直接转换化合物半导体传感器被配置在所述偏置板上,其中,每个贴片包括所述直接转换化合物半导体传感器和读出集成电路IC层;/n其中,所述直接转换化合物半导体传感器被配置成将所述X射线或伽马射线辐射的光子转换成电流;以及/n其中,所述读出IC层位于所述直接转换化合物半导体传感器旁边,并被配置成接收所述电流并处理所述电流。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于芬兰探测技术股份有限公司,未经芬兰探测技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880008710.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top