[发明专利]集成式结构、NAND存储器阵列和形成集成式结构的方法在审
申请号: | 201880009142.0 | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN110235247A | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | J·D·霍普金斯;D·戴寇克 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L27/11556 | 分类号: | H01L27/11556;H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11529 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一些实施例包含一种具有交替的绝缘层级与导电层级的竖直堆叠的集成式结构。所述导电层级包含具有第一竖直厚度的主区,并包含具有大于所述第一竖直厚度的第二竖直厚度的端突出部。电荷阻挡材料邻近于所述端突出部。电荷存储材料邻近于所述电荷阻挡材料。栅极介电材料邻近于所述电荷存储材料。沟道材料邻近于所述栅极介电材料。一些实施例包含NAND存储器阵列。一些实施例包含形成集成式结构的方法。 | ||
搜索关键词: | 集成式结构 邻近 层级 竖直 电荷存储材料 电荷阻挡材料 栅极介电材料 突出部 导电 沟道材料 竖直堆叠 交替的 主区 绝缘 | ||
【主权项】:
1.一种集成式结构,其包括:交替的绝缘层级与导电层级的竖直堆叠;所述导电层级具有带有第一竖直厚度的主区,并具有带有大于所述第一竖直厚度的第二竖直厚度的端突出部;电荷阻挡材料,其邻近于所述端突出部;电荷存储材料,其邻近于所述电荷阻挡材料;栅极介电材料,其邻近于所述电荷存储材料;以及沟道材料,其邻近于所述栅极介电材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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