[发明专利]集成式结构、NAND存储器阵列和形成集成式结构的方法在审

专利信息
申请号: 201880009142.0 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN110235247A 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: J·D·霍普金斯;D·戴寇克 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L27/11556 分类号: H01L27/11556;H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11529
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一些实施例包含一种具有交替的绝缘层级与导电层级的竖直堆叠的集成式结构。所述导电层级包含具有第一竖直厚度的主区,并包含具有大于所述第一竖直厚度的第二竖直厚度的端突出部。电荷阻挡材料邻近于所述端突出部。电荷存储材料邻近于所述电荷阻挡材料。栅极介电材料邻近于所述电荷存储材料。沟道材料邻近于所述栅极介电材料。一些实施例包含NAND存储器阵列。一些实施例包含形成集成式结构的方法。
搜索关键词: 集成式结构 邻近 层级 竖直 电荷存储材料 电荷阻挡材料 栅极介电材料 突出部 导电 沟道材料 竖直堆叠 交替的 主区 绝缘
【主权项】:
1.一种集成式结构,其包括:交替的绝缘层级与导电层级的竖直堆叠;所述导电层级具有带有第一竖直厚度的主区,并具有带有大于所述第一竖直厚度的第二竖直厚度的端突出部;电荷阻挡材料,其邻近于所述端突出部;电荷存储材料,其邻近于所述电荷阻挡材料;栅极介电材料,其邻近于所述电荷存储材料;以及沟道材料,其邻近于所述栅极介电材料。
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